近場光學是德國neaspec公司推出的全新一代散射式進場光學顯微鏡（簡稱s-SNOM），加載了全新技術，拓展了產品功能，以滿足客戶多樣的實驗需求。基于散射式核心設計技術，neaSCOPE在很大程度上提高了光學分辨率，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內，提供高于10 nm空間分辨率的光譜和近場光學圖像。同時支持s-SNOM功能與納米紅外（FTIR）、針尖增強拉曼（TERS）、超快光譜（Ultrafast）和太赫茲光譜（THz）進行聯用，實現高分辨光譜和成像。由于其高度的可靠性和可重復性，neaSCOPE已成為納米光學領域熱點研究方向的科研設備，在等離子激元、二維材料聲子化、半導體載流子濃度分布、生物材料紅外表征、電子激發及衰減過程等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。

設備點：

	行業的針尖增強技術，高質量的納米分析實驗數據。
	功能多樣、可靠性高，已得到大量發表文章的印證，在納米光學領域有很深的影響力，是國內外實驗室的優先選擇。
	軟件使用方便，提供交互式用戶引導功能，新用戶也能快速上手。流程化的軟件界面，逐步引導用戶輕松完成實驗操作。
	采用模塊化設計，針對用戶的實驗需求量身定制配置，同時兼顧未來的升需求，無需重復購置主機。

s-SNOM基本原理：

   照明的顆粒會在其周圍形成增強的光場，而這個近場會被其附近的樣品改變，這種近場互相作用會導致在遠場接受到的散射光帶有樣品局部的光學性質。當激光（可見，紅外、太赫茲）聚焦到標準金屬涂層AFM針尖上時，會在針尖頂點形成比激發波長小幾千倍，尺寸只由針尖曲率半徑決定的納米焦點。這個納米焦點用來局部探測樣品，通過記錄探針掃描樣品過程中的散射光可以獲得近場光學成像。

設備型號：所有產品都包含支持紅外、太赫茲和可見光波長范圍的納米尺度成像和光譜的定制AFM