塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)ZEM

               ——定量測量熱電材料的塞貝克系數(shù)和電阻                             

產(chǎn)品介紹：

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對金屬或半導(dǎo)體材料的熱電性能的評(píng)估。作為ZEM的點(diǎn)，塞貝克系數(shù)和電阻都可以用種儀器來測量。

產(chǎn)品點(diǎn)：

♦  擁有溫度控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；

♦  測量是由計(jì)算機(jī)控制的，并且能夠在定的溫度下執(zhí)行測量，并允許自動(dòng)測量消除背底電動(dòng)勢；

♦  歐姆接觸自動(dòng)檢測功能（V-I圖）；

♦  可以用適配器來測量薄膜；

♦  可定制高阻型。 

產(chǎn)品結(jié)構(gòu)：

樣品腔部分：

工作原理圖：

應(yīng)用方向：

對于半導(dǎo)體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

可選功能：

1. 薄膜測量選件

2.低溫選件（溫度范圍-100℃到200℃）

3.高阻選件（可高達(dá)10MΩ）

參數(shù)配置：

附：

熱電材料/器件測試設(shè)備

測試數(shù)據(jù)

燒結(jié)P型Si₈₀Ge₂₀塞貝克系數(shù)及電阻率測量結(jié)果

發(fā)表文章

1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 

2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 

3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 

4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 

5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.

用戶單位

清華大學(xué)

中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)

上海交通大學(xué)

復(fù)旦大學(xué)

南方科技大學(xué)

武漢理工大學(xué)

中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所

中國科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所