使用10nm波長間隔測量360nm~740nm全范圍波長。采用雙波束方式、雙通道傳感陣列實現高精度和高再現性。
通過技術革新實現SCI/SCE之間的切換，并將濾光器等部件的移動減至zui小。在設計和產品校準中引入了ISO9001認證質量管理體系，使產品具有高可靠性和耐用性。
通過特殊的數字化光澤控制方式同時測量SCI和SCE，僅需4秒即可連續測量。與傳統機型不同的是，無需在SCI和SCE模式之間進行頻繁的機械切換，這樣就提高了工作效率。由于在切換模式時測量區域不會變化，因此可提供穩定的測量數據
包含UV的光源和篩除UV的光源依次發光，可獲取包含UV的光源下的樣本數據和不包含UV的光源下（400nm或420nmUV截止濾光片）的樣本數據。
也可輕松獲取任意光源下的數據（UV調整）。任意光源下僅需測量已知分光反射率數據的標準熒光樣本，即可完成UV校正。UV校正后可獲取相應光源下的樣本數據。由于無需對UV截止濾光片移動引起的嘗試錯誤進行UV調整，大大縮短了測量時間。
測量口徑為 Φ25.4mm、Φ8mm、Φ4mm