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四探針測試儀測試儀型號：GSZ-RTS-3

手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。

本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。

　術(shù)　　標 ：

測量范圍	電阻率：0.01～1999.9Ω.cm；方塊電阻：0.1～19999Ω/□；
恒源	電量程分為100μA、1mA兩檔，兩檔電連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表	量程及表示形式：000.00～199.99mV；分辨力：10μV；輸入阻抗：>1000MΩ；度：±0.1%；顯示：以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；性、量程自動顯示；
四探針探頭基本標	間距：1±0.01mm；針間緣電阻：≥1000MΩ；機械游移率：≤0.3%；探針：碳化鎢或速鋼Ф0.5mm；探針壓力：5～16 牛頓（總力）；
四探針探頭應用參數(shù)	（見探頭附帶的合格證）
模擬電阻測量相對誤差	1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機測量zui大相對誤差	（用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試）≤±5%
整機測量標準不確定度	≤5%
外型尺寸	185mm（長）90mm（寬）30mm（）
重量	350g
電源	鋰電池，次充電可連續(xù)使用100小時；
標準使用環(huán)境	溫度：23±2℃；相對濕度：≤65%；無頻干擾；無強光直射；

產(chǎn)品名稱：數(shù)字熔點儀熔點儀
產(chǎn)品型號：HA-WRS-2

數(shù)字熔點儀熔點儀型號：HA-WRS-2

點：測定晶體物質(zhì)的熔點以確定其純度。主要用于藥物、染料、香料等晶體有機化合物熔點之測定。光電檢測，數(shù)字鍵盤輸入，大屏幕背光液晶顯示，屏幕直接顯示熔化曲線。有RS232接口。

主要參數(shù)：
熔點測定范圍：室溫～300℃
溫度顯示zui小示值：0.1℃
線性升溫速率： 0.2℃/min， 0.5℃/min， 1℃/min， 1.5℃/m2℃/min， 3℃/min， 4℃/min， 5℃/min八檔
測量準確率：< 200℃： ±0.5℃， ≥200℃： ±0.8℃
儀器重量：11kg
儀器尺寸：398×280×170(mm)

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