ICT4040XP/4880XP/8080XP 電路板故障檢測儀
keqi[ICT]系列檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利用電腦來彌補人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下，對各種類型的電路板進行ASA分析或ICT測試，在線檢測元器件好壞，迅速檢測到電路板上故障元器件。簡捷經濟地修好各種類型電路板。
產品特點：
| ◆*的測試技術，強大的驅動能力，任何故障原因的電路板皆可修好 |
| ◆友好簡單的中文操作界面，不經專業(yè)訓練，任何人均可成為維修專家 |
| ◆無需電路原理圖，不必知道器件型號，對任何電路板皆可快速維修 |
| ◆40/40×2路數字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數據庫 |
| ◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測試功能 |
| ◆電路板測試存儲功能，被測板可與之比較 |
| ◆與進口同類儀器比較，性價比更優(yōu)，操作更方便 |
| ◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測試 |
| ◆本功能亦可通過學習記錄，比較分析來測試 |
工作原理： 全功能ASA+ICT測試器
ASA（Analong signature Analysis）對元件每個管腳提供一個安全、低功率的掃描驅動電壓信號，以便產生一個阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲，以備比對。所有測試都是在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會傷害元件。它不僅能快速掃描并存儲各類IC每個管腳V/I曲線圖形，并且對各類分立元件如：電阻、電容等同樣有效。
ICT（In circuit Testing）它能把待測元件與PC資料庫內相對應的元件資料作邏輯功能測試比較，測試時可在CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài)，元件輸入管腳的輸入波形，同時顯示相應輸出管腳的實測波形及標準波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測試IC好壞，也可測試分析，還可識別不明型號的IC。
[ICT]系列檢測儀檢測更加可靠準確
■ 功能測試軟件設上拉電阻——方便集電極開路門的測試 ■ 功能測試外供電源穩(wěn)定可靠——各種大、中、小型被測電路板皆可測試 ■ 功能測試具有三態(tài)識別能力——可測三態(tài)器件和IC負載能力下降故障 ■ V/I測試正負掃描電壓——同時檢查正/反向V/I曲線 ■ V/I測試六個掃描頻率——保證V/I曲線測試穩(wěn)定可靠 ■ V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類器件的V/I測試集成電路在線功能測試
集成電路在線狀態(tài)測試
本功能采用后驅動隔離技術，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲器等千余種集成電路。
1、快速測試：直接顯示測試結果，迅速確定可疑IC
2、分析測試：顯示全部測試過程，測試激勵。預期和實際響應，幫助分析故障原因
3、器件識別：查找無標記型號IC或同功能不同型號的IC。
集成電路在線狀態(tài)測試
通過好壞板上相應IC的狀態(tài)進行比較，找出有故障的IC。
1、狀態(tài)學習：在線學習*IC的引腳關系，互連狀態(tài)和測試的激勵與響應，并存入數據庫中
2、狀態(tài)比較：同故障板上相應IC在線進行狀態(tài)比較，根據兩者差異判定IC好壞
3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫中的各IC的狀態(tài)資料。
集成電路離線功能測試
離線測試IC功能好壞，自動識別未知型號的芯片
IC邏輯圖查詢
可查閱邏輯電路的邏輯功能圖，管腳圖及部分參數。
V/I曲線測試
通過好壞板上相應節(jié)點的動態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點及故障IC
1、學習：在線學習*板上各節(jié)點的動態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數據庫中
2、曲線比較：同故障板上相應節(jié)點的動態(tài)阻抗曲線進行比較，根據差異大小及維修經驗判定與此節(jié)點相關的IC是否損壞
3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上各個節(jié)點的動態(tài)阻抗圖資料大
網絡提取測試
使用戶方便的測試出元器件之間的連接關系，輔助判斷芯片的好壞。實現網絡提取采用了四種模式：
| 1、探棒對探捧（“棒”—“棒”模式） | 3、測試夾對探捧（“夾”—“棒”模式） |
| 2、探捧對測試夾（“棒”—“夾”模式） | 4、測試夾對測試夾（“夾”—“夾”模式） |
開發(fā)編譯
TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明文件可以通過任何一個文本編輯器建立，并按TVED要求轉換后即可與相應子測試關聯起來，隨時用熱鍵查看相應說明文件。
| 1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法 a）在TVED圖形界面上直接建立 b）讀入DCL語言的編譯結果 |
| 2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應，不斷對測試圖形加以調整、修改。 |
| 3、4種測試方式： a）完整執(zhí)行一個測試 b）執(zhí)行一個測試的一部分c）循環(huán)執(zhí)行 d）單步運行 |
| 型號 | ICT4040XP | ICT4880XP | ICT8080XP |
| 通道 | ICTF: 40th V/I曲線:40th | ICTF: 40th V/I曲線: 80th | ICTF: 40×2th V/I曲線: 80th |
| 附件 | 雙列直插夾具（7件） 表面貼雙列直插夾具（7件） 單排式40腳夾具（3件） |
| 價格 | 28,000 | 36,000 | 48,000 |
| 產地 | 科奇儀器 |
補充：ICT4080P/8080P系統(tǒng)功能
| 單個器件功能測試 | IC狀態(tài)測試 | VI曲線分析 | PROM操作 | LSI在線分析 | 數據庫整理 |
| 器件端口特征曲線測試 | 系統(tǒng)維修日記 | 使用原測試軟件 | TVDE高級測試平臺 | 全面網絡測試 |
| | | | | | | | | | |
對應于“單個器件功能測試”中的12個功能
| MSI在線功能測試 | MSI離線功能測試 | MSI在線型號識別 | MSI離線型號識別 |
| MS在/離線循環(huán)測試 | RAM離線*測試 | RAM在線快速測試 | RAM在線*測試 |
| PROM離線空檢測 | LSI離線功能測試 | LSI在線功能測試 | LSI離線測試庫更新 |
對應于“PROM操作”中的11個子功能
| PROM離線*學習 | PROM離線*比較 | PROM在線快速顯示 | PROM離線學習庫內容轉換 |
| PROM在線快速學習 | PROM在線快速比較 | PROM在線*學習 | PROM在線*學習庫內容顯示 |
| PROM在線*比較 | PROM離線學習庫內容顯示 | PROM在線*學習庫內容轉換 |
對應于“VI曲線分析”中的4大功能
| VI曲線學習 | VI曲線比較 | VI曲線顯示 | 雙板直接對比 |
對應于“IC狀態(tài)測試”中的3大功能
| IC狀態(tài)學習 | IC狀態(tài)比較 | IC狀態(tài)顯示 |
對應于“LSI在線分析”中的3大功能
對應于主框架的17項功能按鈕
| 單個器件功能測試 | IC狀態(tài)測試 | VI曲線分析 |
| PROM操作 | LSI在線分析 | 模擬器件直接測試 |
| 系統(tǒng)自檢 | 數據庫整理 | 建立系統(tǒng)維修日記文件 |
| 原測試軟件 | TVDE高級測試平臺 | 全面網絡測試 |
| 交疊方式排列窗口 | 非交疊方式排列窗口 | 分割窗口 |
| 主界面 | 進入系統(tǒng)幫助 | |
對應于“模擬器件直接測試”菜單的3大功能
熱鍵
| ·Alt+L 進入“LSI在線分析”界面 | ·Alt+M 進入“數據庫整理”界面 |
| ·Alt+N 進入“全面網絡測試”界面 | ·Alt+O 進入原測試軟件界面 |
| ·Alt+R 進入“PROM操作”界面 | ·Alt+S 進入“IC狀態(tài)測試”界面 |
| ·Alt+T 進入“系統(tǒng)自檢”界面 | ·Alt+V 進入“VI曲線分析”界面 |
| ·F1 獲取幫助 | ·Alt+X 退出本系統(tǒng) |
系統(tǒng)運行環(huán)境
| 操作系統(tǒng) ： Win 9X 或 Windows XP | 內 存 ： ≥16M |
| C P U ： PII 以上 | 硬盤空間 ： ≥25M |
| 顯 示 ： 1024×768，24位真彩色 | 鼠 標 ： *，可為任意型號 |
| 電 源 ： 220V/50Hz | |
