IST870/IST878手持式
各種半導體器件快速檢測/參數分選測試儀
自動識別管腳極性和排序漏電分辯1NA,高壓偏置1099V,阻抗測量1TΩ.分立／在板檢測.世界上*臺,*.
（一）. IST870可對半導體各種元器件提供一個快速完整的檢驗,使用者可以任意方向及排列插入被測件（插錯插反均可）,只需按下二個健即可快速測知該元件的功能好壞, 自動識別各管腳的極性和排序及有無漏電流的可能性． 其主要的設計目的是針對一般的使用者不必對被測元件的規格參數及所須的條件有所認識,亦不須費時的輸入各項測試數據.
870的漏電流量測均是各元件在使用上zui常用且重要的參數.計有下列各種:
三極管（Ices）:集電極至發射極間的漏電流,此時基極與發射極短路以避免電路板或線路上的雜迅干擾.
二極管（Er）:陽極至陰極反向偏壓時的漏電流.
模式管MOSFET（IDss）:由DRAIN極至SOURCE極間的漏電流,此時間極（GATE）SOURCE短路.
可控硅（IDRM）:由陽極至陰極正向偏壓的漏電流,當此元件（閘流體）處于截止狀態下場效應管J-FET（IGss）:閘極反向偏壓的漏電流DRan,SOURCE短路.
光電偶合器（Iceo）:輸出端NPN三極管集電極至發射極間的漏電流,此時基極處于開路狀態.
（二）. IST870在漏電流上的測試原理:是以固定低電壓源（30V）為偏壓,當元件處于截止狀態時加在其對應的管腳上,另一端則串入一*靈敏度的電流計,可由（nA）納安,（uA）微安至（mA）毫安共6檔,可全自動換檔量程為0納安---40毫安.zui高分辯力１nＡ.
一般良好的半導體元件,當加在其上的電壓接近或超越其崩潰電壓時,其漏電流才會急促的加大.30V的電壓對一般中小功能的元件來說其漏電電流是很小很小的（<50na）,若測試結果達到微安（uA）或毫安（mA）級,而已知的良品卻很小,對應比較下,可大致確認此被測件已呈老化（DEGENERATION）或處于擊穿（DEGRAKE）的狀態,但在功能上還是能工作的不良品,此種元件工作一久,溫升加大,漏電流更大直至燒毀為止．因此半導體的漏電流大小是zui能影響其電路功效和使用年限,代表其品質優劣的主要因素,尤其對于一些用在高壓,高速開關上的元件至為重要.
該漏電流的上限可由同一型號已知的良品測量值為準或參考元件的規格來判定. 870的漏電流測試由于電壓源的限制,可測知被測件有否漏電的問題,而不像878可測至一般良品的zui高耐壓或漏電流的極限值,此仍是二者在此功能上的zui大不同之處.
（三）. IST870除了對三極管,二極管,模式管場效應管及可控硅,以300uS的脈沖,進行動態的功能測試,若測試通過,則自動進行漏電流測量,元件可任意的方向插入測試座,不必事先去辨認元件各腳的功能極性或排列順序.相同的方式,對穩壓二極管或正/負穩壓源進行輸出電壓的測量.由于870在價格上的優勢及全自動智能化的設計,極適合一般技術維修人員操作,當補拆下的懷疑元件放入測試后,可確信問題是否已被排除,做為一些維修站的基本配置勢必可行.
（四）. 當元件被焊在電路板上時可以三點探測器進行在線測試,此方式于表面粘的元件,首先須調整鑷子般的探筆,使其側置其上,以大姆指側壓筆身,食指置于筆上的按鍵上,再移動短探棒至被測件的第三點上,當確認每點都通過或漏電流值太大時很有可能是由于線路上其他元件所造成,使用者須檢查電路圖或板上的連接狀況再下定論.在板檢測時,870
上是以低壓進行的,當不用時探筆須折除以負影響.
IST878各種半導體器件快速檢測參數分選測試儀
（一）. IST878面板上的開關置于 FUNCTION 時它在使用上及各項功能就*與870相同,可快速便捷的檢測元件而不須對此元件各項參數及相關數據的了解,若須進一步測試分析其他參數或須知參數在一特定條件下測量值時,就必須將此開關置于 PARAMETER 上,則878成為半導體器件在截止狀態下（OFF-STATE）的參數測量儀了,其可測試的參數如下:
| 元件種類 | 漏電流參數 | 崩潰電壓 |
| 三極管 | Ices,Iceo,Icbo | BVces,BVceo, BVcbo |
| 二極管 | Ir | BVr |
| 模式管 | IGss, IDss | BVdss |
| 可控硅 | Idrm | BVdrm |
| 場效應管 | IGss,IDss | N/A |
| 光偶合器 | Iceo | N/A |
本機在此時其電流計的精度,范圍與檔位*與870相同由0nA（納安）-40mA（毫安）共6檔.偏壓電壓,為二種*可程控的電壓源0-30V,及30V-1099V.
（二）. IST878在測漏電流時,本機要求輸入偏壓有高電壓檔的（30V-1099V）及（0-30V）的低電壓,由（0nA-40mA）,使用者須對被測件的規格指標有一定的了解,以便測知其zui大極限值,若所給的電壓過高多余降在限流電阻上,所以實際加在元件上的電壓與使用者先設定的電壓會有不同,但本機會將此電壓與流過的漏電流實際量測顯示出來,以提供zui真實精確的結果.在崩潰電壓的測量過程中由于所設定的電流值過高,以致高壓源升得過高而造成元件的二次崩潰,本機可自動偵測并實際量測出來,如此可以避免由于使用者輸入過高的測試條件而造成被測件或儀器的受損.
（三）. 當面板上的開關置于功能上時STL878就變為*的870,所有的功能及操作方式都相同,若置于參數這邊,則878就為一個功能強大的21種參數測量儀,如果測試結果的上限或下限數據被輸入本機的話,則它可成為一個自動辨別好與壞的測試儀.（GO/NO GO TESTER）.878除了可程控的偏壓可達1.099VOLT的漏電流量測及快速的崩潰電壓搜尋外,尚可量二極管在50mA-1A的恒電流源下的導通壓降（Vf ILEAK）此項功能測量任二點的漏電流數值同時顯示所加在其上的電壓,由此二數據可由歐姆定律R=V/I 算出此二點間的阻值.因此可用于偵測在某一設定的偏壓下任二點的漏電流,或可測量一個器材或設備的輸入阻抗（1T歐）.如;線纜,探頭,開關,電路板,聯接器,絕緣材料等.
