產品介紹：
 

特性

        測量性能

測量參數---------------S11,S21,S12,S22

測量通道數量-----------zui大到16個獨立的邏輯通道，一個邏輯通道被定義為某一激勵信號設置，如頻率范圍測試點數，功率等每個邏輯通道中屏幕上作為獨立的通道窗口顯示

數據跟蹤---------------zui大到16個數據跡線顯示在各自的通道窗口上，一個數據跡線顯示被測器件的某一參數如S參數，時域響應，輸入功率響應

存儲跟蹤-----------------------16個數據跡線的每一個都能將當前值保存到存儲器用于比較

數據顯示格式-----------------對數幅值zui大到16個標記，對增量標記操作可應用參考標記

                        史密斯圓圖支持5種標記格式：線形幅值/相位，

                        對數幅值/相位，實部/虛部，R+jx和G+jB極坐標支持3種

                        標記格式：線性幅值/相位，對數幅值/相位，實部/虛部

        掃描特性

掃描測量點數------------------用戶自行設置2到10001

掃描類型------------------------當激勵功率為固定值時：線性掃描，對數掃描，分段掃描

當頻率為固定值時：線性功率掃描

分段掃描特性-----------------在幾個獨立的用戶定義的分段內頻率掃描，應為每個分段

設置頻率范圍，掃描點數，源功率和IF帶寬

功率-----------------------------源功率-45dBm到+10dBm精度0.05dB,在頻率掃描模式中功率斜率可設置到zui高2dB/GHz去補償連接線中高頻衰減

掃描觸發-----------------------觸發模式：連續，單次，保持，觸發源：內部，手動，外部

        跡線功能

跡線顯示-----------------------數據跡線，存儲器跡線或數據和存儲器跡線同時顯示

跡線數學-----------------------通過數學運算更改數據跡線：對被測復雜值和存儲器數據進行加，減，乘，除

自動刻度-----------------------自動選擇刻度和基準值具有zui有效的顯示跡線

電延遲--------------------------在低損耗測試設置中，將校準面移動，對延遲補償

被測器件線性相位的偏離測量時的電延遲補償

相位偏移-----------------------相位偏移度數

統計-----------------------------計算和顯示數據跡線的平均值，標準偏差，峰-峰偏差

        其他特性

熟悉的圖形用戶界面---------基于Windows操作系統的用戶界面

分析儀控制---------------------保證了用戶快捷和容易的一起使用

使用個人電腦

圖標打印/存儲-----------------圖標和數據打印具有預覽功能

預覽，存儲和打印可通過MS Work,

Windows圖像瀏覽器或分析儀打印向導來完成

編程功能-----------------------COM/DCOM自動控制

        精度提高

校準------------------------------測試設置的校準（包括儀器，連接線，轉換器）顯著地增加測量的精度校準

                        允許對測量系統的不完整性引起的誤差進行校正：系統的定向、輸出源和負

                        載匹配，跟蹤和隔離

校準方法------------------------可以采用多種混合校準方法來提高精度水平其中zui精確的是全一端口校準和全二端口校準

反射和傳輸標準化-----------對反射和傳輸測量的頻響誤差的幅度和相位校正

全一端口校準-----------------頻響的幅度和相位校正，對一端口反射測量定向和輸出源匹配誤差校正

單路二端口校準--------------進行反射和單路傳輸測量，類似于一端口反射測量頻響的幅度和相位校正，對反射測量的輸出源匹配誤差校正

全二端口校準-----------------進行被測器件的全部的S參數矩陣測量，對反射和傳輸測量的頻響的幅度和相位校正定向和輸出源匹配和負載匹配和隔離，隔離校準可省略

定向校準（可選）-----------定向校正附加到反射校正

隔離校準（可選）-----------隔離校正附加到傳輸校正，全二端口校準中的單路二端口校準

糾錯插補-----------------------當使用者改變設置，如開始/停止頻率和掃描點數，與校準時的設置進行比較，插補或校準推定被實行

端口阻抗轉換-----------------在50歐端口測量的S參數能轉換為在任意阻抗的測試端口被測定的值

去嵌入--------------------------此功能允許將連接校準面和被測器件的夾具回路的作用從測量結果中算術地出去，此回路通過標準文件里的S參數矩陣來描述

嵌入-----------------------------此功能允許將校準面和被測器件的夾具回路虛擬集成后，算術地模擬被測器件參數此回路通過標準文件里的S參數矩陣來描述

S參數轉換---------------------此功能允許測量的S參數轉換為如下參數：反射阻抗，導納，傳輸阻抗和導納，S參數的倒轉

時域變換----------------------使用Chip Z 轉換將測量數據從頻域轉換為時域轉換類型：帶通，低通沖擊，低通步進 可進行窗口轉換：zui小，正常，zui大

選通----------------------------選通濾波器類型：帶通和陷波 選通窗口：寬屏，正常，zui小

頻率范圍：300KHz到3.2GHz

頻率分辨率1mHz

IF帶寬設置：1Hz到30KHz

功率范圍：-45dBm到+10dBm

功率精度：±1.0dBm

掃描時間：25ms

動態范圍（IF帶寬 10Hz）:130dB typ.135dB 

顯示：10.4英寸TFT彩色液晶（800×600）觸摸屏

用戶界面：USB2.0、以太網、鍵盤、鼠標、打印機、視頻