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應用領域 | 文體,電子,印刷包裝,紡織皮革,冶金 |
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鹵素分析測試儀
手持式儀器資料:
Delta RoHS檢測儀/適用法規(guī) 符合各種監(jiān)管法規(guī)
歐盟RoHS指令(2011/65/EU)
歐盟WEEE指令(2002/96/EC)
中國、韓國、日本RoHS指令
美國消費品安全改進法案(CPSIA)(HR404)
美國不含鹵素的限制指令
加州65號提案
美國試驗與材料協(xié)會(ASTM)的標準F2617-08、F963
美國CPSC-CH-E1002-08SOP的標準作業(yè)程序
美國環(huán)境保護署(EPA)的方法6200
美國職業(yè)安全與健康研究所(NIOSH)的方法7702
美國職業(yè)安全與健康署(OSHA)的方法OSSA1-OSSA
Delta RoHS檢測儀/模式、元素
模式:RoHS/WEEE
Cd、Cr、Pb、Hg、Br、Cl、Ca、、V、、Mn、Fe、
Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、As、Se、Au、Bi、Sr、Zr、
Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等30個元素。
模式:Consumer(選項)
Cd、Cr、Pb、Hg、Br、Cl、Ca、、V、、Mn、Fe、
Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、As、Se、Au、Bi、Sr、Zr、
Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等30個元素。
模式:Alloy(選項)
, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr,
Nb, Mo, Ag, Sn, Sb、Pd、Cd等23元素。
模式:Halogen/Polymer(選項)
Br、P、S、Cl、K、Ca、、、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、
Cu、Zn、Hg、As、Pb、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Mo、Ag、
Cd、Sn、Sb等28個元素。
Delta 技術性能
大功率性能微型直板電子X射線管,無壓電纜、無射頻噪聲、更好的射線屏蔽、更好的散熱。低壓電流可達200uA
更多、更薄的性能濾光片系統(tǒng),自動優(yōu)控制。
超短距檢測窗結構可確保更的信噪比。
集成的自動大氣壓校正技術,可更地分析輕元素。
集成的加速器,工作與休眠自由切換,節(jié)能。
熱插拔技術,更換電池時無須關機。
可選配的真空技術,可進一步提輕元素的分析質量。
白光顯示技術,強陽光下也能清晰顯示,及室內外顯示不同的省電節(jié)能特性。能耗低,彩色觸摸屏清晰、明亮、靈敏。
一鍵式按鈕設計, 即使長時間操作也無疲勞感。
儀器具有很好的平衡性,工作時不需手扶。
整機頂部使用鋁合金槽式散熱裝置,散熱性好,堅固耐用,遍布DELTA機體的內置大區(qū)域散熱器適用于溫度下的功率檢測操作,根本性解決XRF儀器存在的散熱問題。
一體化密封設計,采用凸槽?、凹槽構造,使儀器具有很好的三防性,可承受野外e劣的工作環(huán)境。
浮點處理器計算時間更短,還可使用更的校準算法。
采用多光束技術,使重金屬、過渡、輕質元素的分析佳。
可設置多達25種精度分析模式,現(xiàn)場獲取校準方法。
采用多光束技術,使不同元素的分析效果佳。
Windows CE系統(tǒng),超大Micro SD 卡,支持微軟通用程序聯(lián)機,USB、藍牙下載數(shù)據。
無需電腦可現(xiàn)場操作光譜放大、縮小,支持現(xiàn)場個別元素、個別譜線顯示。可百分比%和ppm顯示元素含量,元素可按能量、濃度、自定義等方式排序,可統(tǒng)計多次測試平均值,儀器在測試過程中同步動態(tài)顯示各元素含量。
具有自動校準、診斷、故障、報告功能,遠程診斷與升級。
智能識別Pb元素智能識別功能:可以智能識別PCB中的鉛元素存在于表面還是基體中。
Delta RoHS檢測儀/DELTA檢出限 DELTA-50是手持XRF分析儀系
列中的較好款型,裝有大區(qū)域硅漂移探測器(SDD)和
50KV的金、鉭、陽極X射線管。這種功能組合改進了鉻、
鎘和銻的檢出限,提升了操作
人員完成篩查項目的信心。
臺式儀器資料:
熒光能譜儀U
經濟、準確、惠而不凡
快速應對RoHS&WEEE&
無鹵化指令,有效控制受限物質環(huán)保風險
元素檢測
RoHS檢測:
用戶可方便對RoHS控制的六類物質進行檢測與控制。
Pb、Cd、Hg、六價Cr(測試總Cr)PBB、PBDE (測試總Br)。
無鹵檢測:
優(yōu)良的硬件設計和完善的軟件解譜方法,可以的測試氯(Cl)元素。檢出下限低至≤60ppm。
開放性工作曲線
用戶可很方便的根據自身材質狀況,建立風險材料的工作曲線,全面提工作曲線與被測材料的對應性。從而大幅度提升風險物質的檢測精度。
分析時間
可根據樣品種類設置不同的檢測時間,并可根據樣品大小自動調節(jié)檢測時間以保證所需檢測精度。
XRF應用-無鹵測試
對于氯(Cl)元素的測量,光路優(yōu)化前后存在的差別,主要原因如下:
① 由于氯(Cl)元素熒光光子能量較低(2.6KeV),空氣會對熒光光子產生較為嚴重的吸收效應,從而降低熒光強度,大幅度降低測量精度。
② 空氣中惰性氣體元素氬(Ar)對氯(Cl)元素產生的干擾,也會對測量精度產生較為顯著的負面影響。
光路優(yōu)化之后明顯看出空氣中惰性氣體元素氬(Ar)對氯(Cl)元素產生的干擾減少。
鹵素分析測試儀