目錄:深圳市天創美科技有限公司>>電鍍層檢測儀>>電鍍膜厚分析儀>> 電鍍膜厚測試儀
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 文體,電子,印刷包裝,紡織皮革,冶金 |
我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規定的有害物質：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質采礦（各種礦石品位檢測設備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環境保護、香精香料、紡織品、醫藥、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。
電鍍膜厚測試儀
產品介紹：
新一代專業鍍層厚度檢測儀，采用分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果業界。 電鍍膜厚測試儀
樣品移動設計為樣品腔外部調節，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。
設計更科學，軟硬件配合，機電聯動，輻射安全于國標GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級管理權限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。
產品指標：
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數：0-50Kv，50W，側窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環境：非真空條件
數據通訊：USB2.0模式
準直器：?1mm，?2mm，?4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區：開放工作區 自定義
樣品腔：330×360×100mm
標準配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機主機：品牌+雙核
顯示屏：19吋液晶
打印機：噴墨打印機
可選配件
可升級為SDD探測器
可以實現全自動一鍵操作功能，準直器自動切換，濾光片自動切換，開蓋隨意自動停，樣品測試照片自動拍照、自動保存，測試報告自動彈出，供應商信息自動篩選和保存.
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