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單晶硅標準樣

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海德創業（北京）生物科技有限公司
2017-04-07 13:33:46
北京市
772

具體成交價以合同協議為準

【簡單介紹】

單晶硅標準樣（Silicon Test Specimen）用于掃描電鏡放大倍數校準（同時評估圖象扭曲度），也可用于光學顯微鏡。5mm x 5mm見方，每10µm （0.01mm）有一方格，格與格之間分割線大約為1.9µm寬，每隔500µm有一稍寬的分隔線（便于用于光學顯微鏡）；分隔線由光蝕刻形成，約200nm深。

【詳細說明】

單晶硅標準樣（Silicon Test Specimen）

單晶硅標準樣，即可用于掃描電鏡放大倍數的校準（同時評估圖象扭曲度），也可用于光學顯微鏡。5mm x 5mm見方，每10µm (0.01mm)有一方格，格與格之間分割線大約為1.9µm寬，每隔500µm有一稍寬的分隔線（便于用于光學顯微鏡）；分隔線由光蝕刻形成，約200nm深。不同樣品均可以直接放置于上，從而為低倍電鏡或者光鏡進行內部標定。

以下是產品的貨號、名稱和規格可根據掃描電鏡型號的不同選擇試樣及所帶的樣品臺。

產品訂購信息：

產品貨號	產品名稱	產品規格
79502-01	Silicon Test Specimen, Unmounted單晶硅試樣	1
79502-10	Silicon Test Specimen, Unmounted	10/pk
79502-12	Silicon Test Specimen on 12.5mm Pin Stub	1
79502-20	Silicon Test Specimen for Incident LM	1
79502-30	Calibration Certificate證書（需另選擇單晶硅試樣）	1


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