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•通用的探針臺

•適合未封裝的集成電路、晶片和大型電路板

•-40C至125C可配置

•集成隔振平臺

•定制-例如：雙面探測和磁場

2210-LS型通用探針臺（應用、系統、開發等）兼容專門用于將晶圓級探針能力遷移到測試板級，以協助進行后續的產品測試

2210-LS使您能夠在高于和低于環境溫度的情況下探測安裝在測試板上的未封裝集成電路，且不限制電路板使用芯片的能力，也不限制在晶圓級使用的探測能力。使用2210-LS，可以跟蹤和分析僅在實際的終應用程序環境中出現的問題，比以前更快、更容易

使用2210-LS，您可以探測：

•在環境模式下測量高達24〃正方形，在溫度模式下測量高達18〃。

•300毫米以下的晶圓。

•晶圓片和形狀/尺寸奇怪的試樣

•支持的溫度范圍：-40C至125C

每個2210配有：             

•集成隔振底座平臺。             

•可升級溫度選項。選擇-40C到125C，或環境溫度。

•可選擇的顯微鏡系統。

•大平移手動顯微鏡運動，JIN確精細運動。

•兩個獨立的可移動平臺。