SDmatic - 損傷淀粉儀

產品概述

KPM-Chopin SDmatic是一款簡單而精確的儀器，用于測量面粉中受損的淀粉，用于制粉和烘焙行業。它是一個全自動的無酶分析儀，只需一克面粉，在10分鐘內就能對淀粉損傷進行可靠的測量。它的基礎是 安培法(Medcalf & Gilles)。

應用

了解面粉的烘焙能力

SDmatic測量面粉中淀粉的損傷程度。 這提供了關于面粉烘焙能力的信息：受損的淀粉使吸水能力成倍增加，這影響到面團的粘性，并導致更高的糖分產生，這影響到最終產品的體積和顏色。

每種產品都有一個最佳的破損淀粉含量。

粉師和面包師可以測量面粉中受損淀粉的水平，以便：

• 確保研磨過程的優化和設置（軋輥、平行度、磨損）。

• 根據客戶的規格生產面粉。

• 確保面粉具有最佳和穩定的質量。

• 優化和控制加工過程（水合率、混合、醒發和烹飪），確保成品的質量（體積、顏色和保質期）。

• Define the optimal hydration rate to obtain a maximal yield while avoiding the risks of sticky dough

• Optimize the addition of additives in the flour (α-amylase, for example) to maximize volume and color, while limiting the risks of collapse and too much red coloring

工作方式

用于粉師和面包師的簡單而精確的儀器

安培法是基于Medcalf & Gilles (1966)提出的理論，證明面粉的碘吸收能力與它的淀粉損傷成正比。

碘是用一個特殊的探針通過電化學產生的。釋放出的碘會導致產生電流，用一對電極進行測量。特殊探頭和電極在SDmatic測量探頭中重新組合（見下文）。在整個測試過程中，SDmatic攪拌器對溶液進行攪拌。

通過SDmatic加熱電阻將溶液加熱到35 °C/95 F°。

當面粉經震蕩落入反應杯時，破損的淀粉會吸收碘，測量的電流會下降：下降的幅度越大，破損淀粉含量就越大。

測量周期

電流的變化與碘的變化相關。被測量的是電流。

階段0：測量周期的啟動

第1階段：加熱電阻使溶液達到正確的溫度（35℃）。

第2和第3階段：探針以電化學方式產生碘，與引入的面粉質量成正比。

第四階段：穩定期測量所產生的確切電流（即碘）（最大值（lm））。

第5階段：在穩定期結束時，引入面粉并固定碘；電流隨著碘的吸收而減少。

第六階段：在加入面粉180秒后，探頭測量剩余電流（Ir）的值。 下降幅度越大，受損的淀粉含量就越大。

結果

在測試結束時，結果顯示在屏幕上

• 淀粉損傷的程度用Ai%（碘吸收）表示

• 然后將其轉化為UCD和UCDc（校正值考慮了水分和蛋白質的水平）。

• 包括其他單位的預測方程，酶法（AACC 76-31.01，Farrand）。

• AACC 76-31.01, Farrand is already installed in the Software

• You may decide to replace them with other measurements: AACC 76-30.02, etc.

為了顯示UCDc結果，有必要在測試開始時將水分和蛋白質作為重要參數錄入到軟件中。

水分與蛋白質的數據可以用EM10標準專用烘箱和/或近紅外分析儀（如SpectraStar）來確定。

系統組成

SDmatic配有一個測量探頭、一個攪拌器、一個加熱電阻、兩個反應杯、兩個樣品勺和一個清潔容器。它配備了一個LCD觸摸屏和一支觸摸筆，以及一個用于裝溶液的塑料瓶及加熱器，一個塑料瓶滴瓶（用于添加試劑）。它還包括探針清潔組件。

SDmatic - 損傷淀粉儀

技術規格