国产一卡2卡三卡4卡麻豆_了解最新日韩草逼视频_h片在线播放一区_国产激情影视在线_好了av四色综合无码久久_欧美黑白双插OOR720P_日本精品中文字幕在线_秋霞午夜手机影院_亚洲国产一区二区3da毛片_欧美杂交深喉video中文字幕

您好, 歡迎來到化工儀器網

| 注冊| 產品展廳| 收藏該商鋪

400-630-7761

Download

首頁   >>   資料下載   >>   6英寸晶圓檢測顯微鏡:可靠觀察細微高度差異

徠卡顯微系統(上海)貿易...

立即詢價

您提交后,專屬客服將第一時間為您服務

6英寸晶圓檢測顯微鏡:可靠觀察細微高度差異

閱讀:522      發布時間:2024-08-22
分享:

在半導體器件生產過程中,晶圓檢驗對于識別和減少可能影響器件性能的缺陷至關重要。為了提高檢驗的精確性和效率,光 學顯微鏡方案應結合不同的對比方法,提供關于圖案化晶圓上可能存在的任何缺陷的準確可靠信息。其中,在晶圓檢驗中起 重要作用的一種對比方法是微分干涉對比(DIC)。


描述了一種帶有自動化和可重復的微分干涉對比(DIC)技術的6英寸晶圓檢查顯微鏡,即帶有晶圓載物臺的DM6 M。在半 導體行業中,晶圓檢查用于質量控制(QC)、失效分析和研發(R&D),通常需要使用各種對比方法的光學顯微鏡。DIC技 術能夠高效地可視化圖案化晶圓上結構之間的微小高度差異。即使是經驗較少的用戶,使用自動化和可重復的DIC也能在檢 查期間高效地進行DIC成像

提供商

徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司

下載次數

0次

資料大小

1.7MB

資料類型

PDF 文件

資料圖片

點擊查看

瀏覽次數

522次

產品展示

會員登錄

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

標簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標簽最多10個字符)

常用:

提示

您的留言已提交成功!我們將在第一時間回復您~
在線留言
主站蜘蛛池模板: 永清县| 沅江市| 天峨县| 博白县| 布尔津县| 绥江县| 宾阳县| 慈利县| 札达县| 邻水| 广宁县| 龙门县| 织金县| 玉田县| 华阴市| 泸州市| 库伦旗| 额尔古纳市| 景泰县| 平湖市| 海晏县| 获嘉县| 惠安县| 施秉县| 扬中市| 会同县| 株洲县| 太仆寺旗| 漳平市| 泸西县| 华安县| 唐山市| 阳曲县| 宁陵县| 镇安县| 巍山| 德保县| 焦作市| 桐城市| 天峻县| 包头市|