儀器簡介　　Bruker全新設(shè)計的新一代直讀光譜儀Q2 ION在金屬材料分析的便捷性和簡易性上，帶來了一場新的革命。Q2 ION是現(xiàn)今市場上zui為輕巧的高性能直讀光譜儀。源自顛覆性的設(shè)計理念，緊湊的體積和強(qiáng)大的分析功能得以*地融合。Q2 ION可同時配備多種基體,適用于金屬行業(yè)中的來料檢驗及質(zhì)量控制，同時，儀器價格定位及較低的運行成本無疑使其在眾多中小企業(yè)中備受青睞。 Q2在許多應(yīng)用，例如鐵基、鋁基和銅基材料的分析中涵蓋所有的重要元素，能夠很好地滿足中小鑄造企業(yè)，金屬加工企業(yè)，質(zhì)量管理部門，原料堆放倉庫，金屬回收企業(yè)，甚至檢測機(jī)構(gòu)的分析要求。 主要特點 *的設(shè)計使得Q2 ION的重量只有不到20kg，可輕易攜帶到周邊的場所進(jìn)行現(xiàn)場分析工作。除此之外，儀器還有配套的行李箱可供用戶選擇，以方便儀器的攜帶及運輸。 Q2 ION采用了技術(shù)—平面視場CCD光學(xué)系統(tǒng)，該技術(shù)使得Q2 ION的設(shè)計突破了傳統(tǒng)光譜的桎梏。光學(xué)系統(tǒng)所配備的動態(tài)溫度補償技術(shù)（AAC），確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有極其優(yōu)異的穩(wěn)定性。 技術(shù)參數(shù)　光學(xué)系統(tǒng) 非渡膜CCD檢測器，具有zui低的暗電流 平面光柵 波長覆蓋范圍：170-685nm 分辨率：30pm 氬氣驅(qū)氣以確保*光通量。 譜圖解析技術(shù) 動態(tài)溫度補償技術(shù)，確保在10至45度的外界溫度下具有*的穩(wěn)定性 分析方法組件 可應(yīng)用于各種不同基體 覆蓋所有主要元素及合金類型 適應(yīng)未來升級需要 激發(fā)源 免維護(hù)，兩相ＰＷＭ激發(fā)源 頻率５０－１０００Ｈｚ 火花臺 免維護(hù) 檢測期間氬氣消耗２．５ｌ／ｍｉｎ 軟件 給予Ｗｉｎｄｏｗｓ的操作軟件 用戶分級權(quán)限 定性及定量分析 操作軟件含分析數(shù)據(jù)庫及辦公軟件接口 牌號庫功能 電源 １００－２４０Ｖ（５０／６０Ｈｚ） 檢測期間２００Ｗ，待機(jī)時５０Ｗ １６Ａ慢融保險絲或２５Ａ慢融保險絲 尺寸 長Ｘ寬ｘ高：４４０ｍｍ×３９０ｍｍ×２２０ｍｍ 重量：１９ｋｇ．