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微米/納米熱傳導測量系統采用SanjSCOPE™ 納秒瞬態熱成像儀和鎖相鎖定熱反射 (TR) 系統，實現器件納米或微米尺度傳熱成像。
微米/納米熱傳導測量系統在可見光波段進行了優化，具有衍射限制的空間分辨率。光譜范圍達到365nm~1050nm，瞬態響應為 50ns。這種寬光譜范圍支持基于鎖相鎖定熱反射 (TR) 成像，用于對各種良好設備進行熱分析。
微米/納米熱傳導測量系統應用背景
NUV 覆蓋范圍對于 GaN 和其他寬帶隙器件的熱分析尤為重要。憑借亞微米空間分辨率,50ns瞬態分辨率以及對 TransientCAL™ 和 HyperSpectral 校準的支持，微米/納米熱傳導測量系統系統將滿足良好的電子和光電設備的熱成像要求。可選的 IR 傳感器可用于進行宏觀分析，以檢測非常低的功率水平，并能夠在微觀尺度上歸零，以便對檢測到的熱點或其他熱異常進行更詳細的分析。
微米/納米熱傳導測量系統規格參數
產品類型: 脈沖激光熱成像分析儀器
瞬態分辨率: 脈寬800 ps (FWHM)
成像傳感器: EMCCD
光譜范圍: 480nm~1060nm
有效像素: 1024 x 1024
像素尺寸: 13微米
空間分辨率
380 nm (@100x, 0.7 NA, 532 nm照明)
760 nm (@100x, 0.7 NA, 1060 nm照明)
NETD: 1000 mK
照明光源: 脈沖二極管激光器 532 nm, 1060 nm
可選物鏡: 5x, 20x, 100x
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