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這款原子力顯微鏡AFM,Atomic Force Microscope具有SPM顯微鏡模式,是進口高精度原子力顯微鏡品牌中原子力顯微鏡價格低的AFM顯微鏡產品。
原子力顯微鏡特色
堅固可靠操作,科研級原子力顯微鏡和掃描探針顯微鏡
單原子步進分辨率為100x100um掃描
超高精度重復定位,掃描范圍內沒有邊界畸變
高靈敏度較低力測量
非常適合軟材料測量
模塊化結構提供多種掃描探針模式
原子力顯微鏡AFM工作模式
支持SPM顯微鏡掃描技術
接觸式AFM模式
非接觸式AFM模式
半接觸式模式
相成像
力monitor
橫向力顯微鏡
力曲線分析
電子特性
磁力顯微鏡
STM顯微鏡