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更新時(shí)間:2024-09-23 21:00:07
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X射線熒光光譜儀特點(diǎn)
具有更高能量分辨率的硅片檢測(cè)器提高了光元件的檢測(cè)限,比Si引腳檢測(cè)器高出100倍。測(cè)量范圍更廣,幾乎可以滿足所有常規(guī)材料的元素分析要求。
數(shù)據(jù)集成處理系統(tǒng)使數(shù)據(jù)采集速度更快,測(cè)量更穩(wěn)定,重復(fù)性好,長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定。
集成多個(gè)圖像計(jì)算機(jī)化方法的軟件使得數(shù)據(jù)測(cè)量更加準(zhǔn)確和穩(wěn)定。
軟件*監(jiān)控核心零件運(yùn)行,確保安全運(yùn)行。
專業(yè)真空系統(tǒng)提供更好的真空性能和出色的測(cè)試結(jié)果。
X射線熒光光譜儀Spectra-4000規(guī)格
可測(cè)元素:Na-U
元素含量:1ppm-99.99%
檢測(cè)限:1ppm
測(cè)量時(shí)間:60-200s(可調(diào))
能量分辨率:129±5eV
X射線管較大輸出電流:1mA
極限壓力:6.7×10-2 Pa
樣品室尺寸:610 * 320 * 100(mm)(無真空)/Φ100* h75(mm)(真空)
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性(標(biāo)準(zhǔn)樣品):±0.05%(高含量)/協(xié)調(diào)0.002%(微量)
優(yōu)異的重復(fù)性(標(biāo)準(zhǔn)樣品):0.06%((高含量)/協(xié)和0.0025%(微量)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)