目錄:孚光精儀(中國)有限公司>>表面微納測量>>納米壓痕儀>> FP-D7相移式點衍射干涉儀
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 15萬-20萬 |
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應用領域 | 電子,綜合 |
移相點衍射干涉儀用于表面形狀和透射波前質量的超高精度測量。
移相點衍射干涉儀檢測表面或波前的絕對圖形。絕對數字是指從絕對參考(即亞波長孔徑衍射產生的球面波陣面)計算測量形式。
性能指標
峰谷絕對精度:±0.6 nm(λ/1000)
峰谷分辨率:0.05 nm(λ/12000)
波前RMS重復性:<0.23 nm(λ/2800)
簡單RMS重復性:<0.06 nm(λ/10500)
激光類型和波長:穩定的He-Ne,632.8 nm
數值孔徑NA:0.55(f#0.91)
數據采集:相移干涉測量法(PSI)
移相點衍射干涉儀用于表面形狀和透射波前質量的超高精度測量。
移相點衍射干涉儀檢測表面或波前的絕對圖形。絕對數字是指從絕對參考(即亞波長孔徑衍射產生的球面波陣面)計算測量形式。
性能指標
峰谷絕對精度:±0.6 nm(λ/1000)
峰谷分辨率:0.05 nm(λ/12000)
波前RMS重復性:<0.23 nm(λ/2800)
簡單RMS重復性:<0.06 nm(λ/10500)
激光類型和波長:穩定的He-Ne,632.8 nm
數值孔徑NA:0.55(f#0.91)
數據采集:相移干涉測量法(PSI)
移相點衍射干涉儀用于表面形狀和透射波前質量的超高精度測量。
移相點衍射干涉儀檢測表面或波前的絕對圖形。絕對數字是指從絕對參考(即亞波長孔徑衍射產生的球面波陣面)計算測量形式。
性能指標
峰谷絕對精度:±0.6 nm(λ/1000)
峰谷分辨率:0.05 nm(λ/12000)
波前RMS重復性:<0.23 nm(λ/2800)
簡單RMS重復性:<0.06 nm(λ/10500)
激光類型和波長:穩定的He-Ne,632.8 nm
數值孔徑NA:0.55(f#0.91)
數據采集:相移干涉測量法(PSI)