目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>光譜分析儀器>> FPISS-ChronosDFD衰變熒光壽命測量系統
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 色散單元 | 光柵 | 應用領域 | 環保,化工,生物產業,制藥 |
衰變熒光壽命測量系統ChronosDFD是自動熒光壽命測試儀器,能夠測量絡合物的熒光和旋轉相關時間,熒光混合物在1秒內準確度為皮秒?？捎糜诳焖贉y量動力學過程；停止狀態下混合物的衰變時間，流動裝置和色譜；和生命周期必須在以下條件下盡量減少曝光的樣品,避免光漂白。
衰變熒光壽命測量系統特點
靈活的儀器配置，具有多種光源（激光二極管、LED和鈦寶石激光器）
緊湊的占地面積和短光程長度，可實現最大的靈敏度和高效的光耦合到樣品中
僅次于皮秒的壽命測量能力
儀器組件的全自動化，包括：反應杯支架、偏振器、快門、過濾輪、單色器和攪拌器
溫度通道、滴定儀、停流裝置和壓力泵的PC控制集成
可升級至全穩態儀表
用于快速精確偏振測量的T格式平行光束光學設計
采用Vinci多維熒光光譜技術
熒光壽命由兩個可測量參數計算：相位角和調制
是一種速度更快、不易產生偽影
允許一步測量各向異性衰減（旋轉相關時間）
更好地解決短期壽命貢獻
是基于壽命的傳感和實時測量的方法，因為毫秒級的采樣率很高
衰變熒光壽命測量系統ChronosDFD使用*的數字頻域技術光源（激光二極管和LED）為使用持續時間約為2納秒的方脈沖進行調制重復率由用戶選擇，范圍為
0.05 Hz至80 MHz。頻率信號包含基波重復頻率及其諧波頻率高達30；也就是說，當基頻為例如10 MHz時，20、30、40和300 MHz以下的諧波生成。探測器光子被分離到相位箱中,取決于它們各自的相移和解調,直到建立了相位直方圖；從柱狀圖的衰減時間已確定。
衰變熒光壽命測量系統應用
固定波長強度測量
固定波長下的偏振（各向異性）測量
慢速和快速動力學
雙波長發射比測量
單指數和多指數衰減的頻率響應
各向異性衰減
相位和調制分辨動力學
相位和調制分辨光譜
時間分辨光譜
FRET熒光共振能量轉移
衰變熒光壽命測量系統規格參數
| 光源 |
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| 聚焦 & 采集 | 平行光束,為精密偏振測量使用 |
| 偏振片 | UV 級 Glan-Thompson with L/A=2.0 |
| 探測器 |
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| 探測模式 | 光子計數 |
| 波長范圍 | 200nm~1700nm (detector dependent) |
| 最大計數范圍 | Up to 13 million counts/s (using hybrid detectors) |
| 壽命食飯未 | 10-12 sec to 1 sec, (range selectable through software) |
| 操作系統 | Windows 10 |
| 供電要求 | Universal power input: 110-240 V, 50/60 Hz, 400 VAC |
| 尺寸 | 540 mm (L) x 425 mm (W) x 235 mm (H) |
| 重量 | 25 kg |
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