目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>表面微納測量>> FPAPE-SNOM掃描近場光學顯微鏡
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子,冶金,航天,電氣 |
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這款掃描近場光學顯微鏡SNOM融合了新代的掃描探針技術和光學顯微鏡技術，它把微型光學探針非常接近材料樣品表面，實現近場成像，掃描近場光學顯微鏡獲得光學信息后提供的圖像分辨率可達100nm以下,在SNOM顯微鏡品牌中擁有高性價比SNOM顯微鏡價格。
掃描近場光學顯微鏡Scanning Near Field Optical Microscope可獲得阿貝衍射極限的分辨率，采用掃描探針顯微鏡壓電式掃描技術和微型光學探針，可獲得亞波長分辨率的光學圖像。
掃描近場光學顯微鏡SNOM特色
集成雙光學視圖系統用于精確定位和遠場光學研究
兼容寬視場光學顯微鏡模式
獨立或同時的透射和反射測量模式
超大工作波長范圍
允許光源倒置或吊射
獨立的光電探測器用于多重光信號收集
就有可擴展性
兼容第三方科學研究儀器
掃描近場光學顯微鏡SNOM應用
納米科技
材料科學
生命科學
生物學
高分子研究
半導體研究
以衍射極限的分辨率獲取樣品光學圖像
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