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X光金屬鍍層測厚儀

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  • X光金屬鍍層測厚儀
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具體成交價以合同協議為準
  • 型號 XRF-2000
  • 品牌
  • 廠商性質 經銷商
  • 所在地 深圳市
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更新時間:2017-07-13 17:04:01瀏覽次數:1101

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產品簡介

X熒光金屬鍍層測厚儀,主要應用于一般工件、線路板、五金電鍍、半導體支架電鍍、人造首飾、端子及電子元器件等產品的各種鍍層行業的一款儀器,全自動軟件操作,多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺,是一款功能強大的儀器。

詳細介紹

詳細信息:
 

Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能*,而且價錢*.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業的*.可測量各類金屬層、合金層厚度.是非破壞性測厚儀器的*機型。


可測元素范圍:

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍:

原子序22-25,0.1-0.8μm

26-40,0.05-35μm

43-52,0.1-100μm

72-82,0.05-5μm

X-射線管:油冷,超微細對焦

高壓:0-50KV(程控)

準直器:

固定種類大?。嚎蛇x0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統:IBM相容,17”顯示器

 

綜合性能::鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.

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