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日本三豐TM系列工具顯微鏡適合于測量加工件的長度、直徑和角度，小型化設計，十分適于在車間等狹小空間使用。
主要特點：1.FEI ESEM（環境掃描電鏡）技術,可在高真空、低真空和環境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微...
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