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[供應(yīng)]CMI511-便攜孔內(nèi)鍍銅測(cè)厚儀 返回列表頁
貨物所在地:上海上海市
產(chǎn)地:美國
更新時(shí)間:2024-11-04 21:00:28
有效期:2024年11月4日 -- 2025年5月4日
已獲點(diǎn)擊:116
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CMI511便攜孔內(nèi)鍍銅測(cè)厚儀的簡單介紹
*臺(tái)帶溫度補(bǔ)償功能的測(cè)量孔內(nèi)鍍銅厚度的測(cè)厚儀CMI511是手持的電池供電的測(cè)厚儀。這款測(cè)厚儀能于侵蝕工序前、后,測(cè)量孔內(nèi)鍍層厚度。*的設(shè)計(jì)使CMI511測(cè)厚儀能夠*勝任對(duì)雙層或多層電路板的測(cè)量,甚至可以穿透錫和錫/鉛抗蝕層進(jìn)行測(cè)量。
CMI511便攜孔內(nèi)鍍銅測(cè)厚儀*的溫度補(bǔ)償特性使其適用于在電鍍過程中進(jìn)行厚度測(cè)量,從而降低廢料、返工成本。
和我們的所有產(chǎn)品一樣,CMI511在售前和售后都能夠得到牛津儀器的優(yōu)質(zhì)服務(wù)的保證。
ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)
可測(cè)試zui小孔直徑:35 mils (899 μm)
測(cè)量厚度范圍:0.08 - 4.0 mils (1 - 102 μm)
電渦流原理:遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定
準(zhǔn)確度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
精確度:1.2 mil(30μm)時(shí),達(dá)到1.0% (實(shí)驗(yàn)室情況下)
分辨率:0.01 mils (0.1μm)
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