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日立分析儀器：微型封裝用X射線熒光（XRF）分析
日立分析儀器：微型封裝用X射線熒光(XRF)分析
從一開始，電子部件的小型化就一直處于半導體器件和微電子學發(fā)展的前沿。然而，我們今天看到的設(shè)備的微小規(guī)模使得生產(chǎn)可靠的電子鍍層成為一個巨大的挑戰(zhàn)。
XRF是驗證電子設(shè)備上鍍層的成分和厚度的既定方法，但是隨著設(shè)備尺寸的減小，XRF必須適應(yīng)這些新挑戰(zhàn)。如何確定亞微米級的精度和精密度？
為了幫助回答這個問題，制作了詳細的指南，內(nèi)容涉及使用XRF來測量非常小的功能。用于微型封裝的XRF分析基本指南可幫助您在測量微型鍍層時充分利用XRF設(shè)備。
微型封裝XRF分析的基本指南
該指南主要針對那些在PCB、半導體晶圓和微型連接器上產(chǎn)生微型鍍層的人而編寫，該指南涵蓋：
XRF技術(shù)，特征分辨率和分析元素范圍。
設(shè)備中的組件如何確定必要的分辨率以及哪種技術(shù)適合微型電子設(shè)備。
針對不同鍍層技術(shù)(例如Au，Ti，Al鍍層，化學鍍鎳和RF濾波器應(yīng)用)的實際分析公差。
應(yīng)該采取什么措施來提高XRF分析的效率，以實現(xiàn)更高的通量。
日立XRF分析儀系列簡介，這些分析儀專為微型封裝質(zhì)量控制而設(shè)計。
毫無疑問，當使用XRF來測量電子鍍層時，超越了傳統(tǒng)的限制，進行正確、準確的測量至關(guān)重要。