產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型、磁探試片
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型、磁探試片用于磁粉探傷時(shí)對(duì)幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工件檢驗(yàn)時(shí),可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢驗(yàn)探傷設(shè)備、磁粉或磁懸液的性能,在磁粉探傷操作中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作需要的電流峰值和方向,并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量,是磁粉探傷*的調(diào)試工具。
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型 符合JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn) 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第4部分 磁粉檢測(cè)
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型用于檢驗(yàn)磁粉探傷設(shè)備、磁粉和磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場(chǎng)強(qiáng)度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程。
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 M1型規(guī)格:φ12(7/15)、 φ9(15/50)、 φ6(30/50) 2片/套