產品簡介
詳細介紹
LED工業射線底片評片燈TH-100LED
LED工業射線底片評片燈TH-100LED
研究表明,LED冷光源,超高亮度、長壽命、節能環保,并且光照均勻,光線柔和,零頻閃,光譜中沒有紫外線、紅外線,零電磁輻射,零熱輻射,更接近自然光,這些特點,決定了LED冷光源評片燈在大幅度提高亮度的同時,不僅能夠達到新的耗能環保等級標準,還能夠有效保護探傷工作者的健康!我公司研發的TH-100LED評片燈,正是具有這些特點的真正的LED面狀光源評片燈。 1、采用LED面狀光源,超高亮度、長壽命、無污染、耐震動、抗沖擊。 2、亮度可調:采用無級電子調光,根據需要任意調節。 3、具有延時啟動功能(0.5s<t<1s)驅動電源:隔離式,驅動模式:恒流。 4、評片燈上裝有可移動的放大鏡便于缺陷的辨認。 5、放大鏡下方附有可上下左右移動的評片尺。便于條狀缺陷測長和圓形缺陷的評定。(上述附加裝置不用時可翻至評片燈上方待用)。 6、觀察屏面板兩側附有JB/T 4730.1~.6-2005標準供查閱。特殊的勻光面板,使之散光更加均勻,zui大觀察屏面積為75×220mm。 7、安全可靠超低噪聲,內置散熱風扇及*的散熱系統,使得連續工作12小時溫升<45℃。只要旋開緊固螺栓,便可清潔內部。 LED工業射線底片評片燈TH-100LED評片系統安裝方法: 請將放大評片系統結構支架固定在上部的可移動滑板上即可。 LED工業射線底片評片燈TH-100LED使用方法: 1、接通電源,扳動開關(2)使電源接通。當開關(3)為OFF狀態時,即可根據底片黑度調節亮度旋鈕(7)使評片燈亮度適中。若需使用腳踏裝置,撥動開關(3)至ON,在此狀態下將腳踏開關插入(10),此時顯示為zui低亮度;踏之,則可實現旋鈕無級調光功能。 2、將底片置于觀察屏前評片。 3、當底片上缺陷尺寸辨認或定性有困難時,拉下放大鏡移至所需部位觀察之。 4、當測定尺寸式評定圓形缺陷時,啟用評片尺,上下左右自移動置于適當位置,迅速評定。 5、當底片缺陷或沒有必要用放大和評片尺時,將其翻置于評片燈頂部待用,可實現快速評片。 LED工業射線底片評片燈TH-100LED注意事項: 1、電源電壓要與本機電壓相符,以防燒毀評片燈。 2、評片燈應置于JB/T 4730.1~.6-2005規定的評片室內使用,避免亮度開的過大,降低本產品的使用壽命。 3、用畢罩防塵罩,以防灰塵落入。 | |
LED工業射線底片評片燈TH-100LED技術指標: | |
1、可觀查膠片黑度:D≥5.0 2、照度:>350,000 Lux(>12×104 cd/m2)
3、電源:50~60Hz 220V 4、功耗:110W 5、放大鏡:放大倍數為2倍,有效面積130×90mm 6、外形尺寸:450×200×200mm 7、重量:4.1kg 8、FUSE:3A 250V |
標準試塊,超聲波標準試塊,超聲標準試塊,超聲波試塊,超聲波探傷試塊是無損檢測*的校準工具,探傷試塊現廣泛運用于電力鍛造,鑄造,機加工等各個行業!超聲波探傷試塊種類繁多,主要分為,鍛件試塊,鑄件試塊,有色金屬試塊,稀有金屬試塊和非金屬試塊。
一、標準化組織標準試塊
標準編號 | 試塊型式 | 單位 | 說明 |
ISO2400-1972E | IIW(荷蘭試塊、V-1 試塊) | 塊 | 碳鋼 |
IIWⅠ | 不銹鋼、鋁合金 | ||
IIWⅠ試塊支架 | 臺 |
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ISO7963:1985 | IIWⅡ | 塊 | 碳鋼 |
IIWⅡ | 不銹鋼、鋁合金 |
二、中華人民共和國國家標準試塊
標準編號 | 試塊型式 | 單位 | 說明 | |
GB/T 3310-1999 | 平底孔標準人工缺陷試塊 | 塊 | 來料加工 | |
短橫孔標準人工缺陷試塊 | 來料加工 | |||
GB/T 4162-1991 | 對比試塊(用于縱波檢驗) | 直徑≤120mm | ||
對比試塊(用于橫波檢驗) | 直徑≤120mm | |||
GB/T 6402-1991 | 平面對比試塊 |
| ||
曲面對比試塊 |
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GB/T 6519-2000 | 平表面對比試塊 | 來料加工 | ||
縱波檢驗柱面對比試塊 | 來料加工 | |||
GB/T 7233-1987 | ZGZ 系列對比試塊(全套共21塊) | 來料加工 | ||
ZGS 對比試塊 | 來料加工 | |||
GB/T7736-2001 | 雙斜槽光面對比試塊 |
| ||
GB/T 11259-1999 《超聲波 | 對比試塊 | 距離幅度組每組21 塊 | 套 |
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基本組每組10 塊 | ||||
面積幅度組共8 塊 | ||||
GB/T 11344-1989 | 測厚試塊 | 階梯:1~10mm | 塊 | 碳鋼 |
階梯:3~48mm | ||||
GB/T 11345-1989 | CSK-ZB |
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CSK-ZB 試塊支架 | 臺 |
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RB-1 | 塊 |
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RB-2 | 碳鋼 | |||
RB-2 | P91 | |||
RB-2 試塊支架 |
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RB-3 | 碳鋼 | |||
RB-3 | P91 | |||
RB-3試塊支架 | 臺 |
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GB/T 18852-2002 | 半圓階梯試塊(HS 試塊) | 塊 |
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橫孔試塊(SDH 試塊) |
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GB/T19799.1-2005 | 1 號校準試塊 |
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2 號校準試塊 |
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三、中國機械行業標準試塊
標準編號 | 試塊型式 | 單位 | 說明 | |
GB/T 3310-1999 | 平底孔標準人工缺陷試塊 | 塊 | 來料加工 | |
短橫孔標準人工缺陷試塊 | 來料加工 | |||
GB/T 4162-1991 | 對比試塊(用于縱波檢驗) | 直徑≤120mm | ||
對比試塊(用于橫波檢驗) | 直徑≤120mm | |||
GB/T 6402-1991 | 平面對比試塊 |
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曲面對比試塊 |
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GB/T 6519-2000 | 平表面對比試塊 | 來料加工 | ||
縱波檢驗柱面對比試塊 | 來料加工 | |||
GB/T 7233-1987 | ZGZ 系列對比試塊(全套共21塊) | 來料加工 | ||
ZGS 對比試塊 | 來料加工 | |||
GB/T7736-2001 | 雙斜槽光面對比試塊 |
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GB/T 11259-1999 《超聲波 | 對比試塊 | 距離幅度組每組21 塊 | 套 |
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基本組每組10 塊 | ||||
面積幅度組共8 塊 | ||||
GB/T 11344-1989 | 測厚試塊 | 階梯:1~10mm | 塊 | 碳鋼 |
階梯:3~48mm | ||||
GB/T 11345-1989 | CSK-ZB |
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CSK-ZB 試塊支架 | 臺 |
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RB-1 | 塊 |
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RB-2 | 碳鋼 | |||
RB-2 | P91 | |||
RB-2 試塊支架 |
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RB-3 | 碳鋼 | |||
RB-3 | P91 | |||
RB-3試塊支架 | 臺 |
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GB/T 18852-2002 | 半圓階梯試塊(HS 試塊) | 塊 |
| |
橫孔試塊(SDH 試塊) |
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GB/T19799.1-2005 | 1 號校準試塊 |
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2 號校準試塊 |
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四、電力行業標準試塊
標準編號 | 試塊型式 | 單位 | 說明 |
DL/T 505-2005 | SDQ—ⅡA、SDQ—ⅡB | 塊 |
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SDQ—ⅡC、SDQ—ⅡD | |||
SDQ—ⅡE、SDQ—ⅡF | |||
DL/T 542-1994《鋼熔化焊T 型 | DL-1 |
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DL-2 | |||
DL/T 694-1999《高溫緊固螺 | LS-1 |
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LS-2 | |||
DL/T 717-2000《汽輪發電機 | 中心孔超聲檢驗用平底孔試塊 | 塊 |
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中心孔超聲檢驗用橫通孔試塊 | |||
DL/T 718-2000 | TP-1 | 塊 |
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TP-2 | |||
TP-3 | |||
DL/T 820-2002 | DL-1 | 塊 | 碳鋼 |
DL-1 | 不銹鋼、P91 | ||
SD—Ⅲ | 來料加工 | ||
SD—Ⅳ |
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短槽試塊 |
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補償量測定試塊 |
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DL/T 821-2002 | Ⅰ型深度對比試塊 | 塊 | 全套6塊提供管徑壁厚 |
Ⅱ型深度對比試塊 | 全套2塊,Ⅰ型、Ⅱ型 |
五、石油天然氣行業標準
標準編號 | 試塊型式 | 單位 | 說明 |
SY/T 4109-2005 | SGB-(1~6) | 塊 | 全套6塊 |
SRB |
| 來料外形不加工 |
六、建筑工業行業標準
標準編號 | 試塊型式 | 單位 | 說明 |
JG/T 203-2007 | CSK-ⅠCj | 塊 | 全套3塊 |
RBJ-Ⅰ | 提供被檢鋼管外徑和壁厚 | ||
CSK-ⅠDj | 全套3塊 |
七、船舶行業標準
標準編號 | 試塊型式 | 單位 | 說明 |
CB/T 3559-94 | CTRB-1 | 塊 |
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CTRB-2 |
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CTRB-3 |
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CTRB-1C | 提供管徑和壁厚 | ||
CTRB-2C | |||
CB/T 3907-1999 | TCK-D |
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八、其它標準試塊
標準編號 | 試塊型式 | 單位 | 說明 |
| 半圓試塊SH-1 | 塊 |
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| 模擬試塊H-30 | 全套5塊 | |
| 模擬試塊H-50 | 全套5塊 | |
| 模擬試塊H-80 | 全套5塊 | |
| 靈敏度試塊CS-1 | 全套15塊 | |
| 靈敏度試塊A1 |
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| 靈敏度試塊A2 |
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| 微盲區試塊STM-1 |
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| 微盲區試塊STM-2 |
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| CSK-Ⅰ |
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| CSK-Ⅱ |
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| CSK-Ⅲ |
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JB1150-73 | 板材試塊 | 全套3塊 | |
| 階梯試塊(射線) | 墊板2塊 |
九、磁粉探傷試塊、試片
標準編號 | 試塊型式 | 單位 | 說明 |
JB/T 4730.4-2005 | A1 型試片 | 套 |
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C 型試片 |
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磁場指示器 |
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提升力試塊(磁粉探傷) | 塊 | 3.5kg、4.5kg | |
JB/T6066-2004 | B 型試塊(直流環形試塊) | 塊 |
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E 型試塊(交流環形試塊) |
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十、滲透探傷試塊
標準編號 | 試塊型式 | 單位 | 說明 |
JB/T 4730.5-2005 | 鋁合金試塊 | 塊 |
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不銹鋼鍍鉻三點式 |
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不銹鋼鍍鉻五點式 |
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不銹鋼鍍鉻條紋式 |
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