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GCGEST-125半導(dǎo)體電橡塑材料體積電阻率試驗(yàn)儀PX 5467
100V 650W計(jì)測網(wǎng)UIH-3D型仕様INTECS鹵素?zé)裟恳暀z查PX 4207
TRINC拓林科風(fēng)淋室PX 2106
渦流法電阻率測試儀PX 1939
C190H隔膜材料透氣性測試儀PX 7093
MX63/MX63LMX63/MX63L 半導(dǎo)體/FPD檢查顯微鏡PX 3774
WQ/五強(qiáng)WQ4850A半導(dǎo)體參數(shù)測試儀PX 3894
1345.43VL100-S10供應(yīng)德國WEBER檢測儀1345.43VL100-S100PX 5654
基于CW和高調(diào)制激光器的合束器PX 2491
DGPT2/PAAutomation 2000船用變壓器測控裝置議價(jià)PX 4276
IMPAC IGAR 6-TV Smart紅外測溫儀PX 3123
KDK-LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀PX 3321
FR-uProbe-LC光學(xué)顯微鏡適配器PX 7337
ChillerPX 1900
N3300A直流電子負(fù)載PX 2497
SIRM紅外體微缺陷分析儀PX 2952
B1500A半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀PX 2382
HED-G5000全自動芯片ESD測試設(shè)備PX 2745
ESPP-L-H-10東京計(jì)器 TOKYO-KEIKI 電子式壓力開關(guān)PX 3621
*材料測試美國吉時(shí)利KEITHLEY2450源表PX 6631
LT-2型單晶少子壽命測試儀PX 2940
M1108型半導(dǎo)體冷凝器PX 4149
Freiberg Instruments MDPspot少子壽命測試儀PX 3220
PIDcon bifacial臺式雙面電池PID測試儀PX 3564
ACU10FA-LH0-5V或4-20mA模擬信號的氣體流量控制器PX 3288
MKS AX7657-85MKS ASTRON2L RPS 半導(dǎo)體遠(yuǎn)程等離子源PX 2076
NTS-7100高低溫氣流循環(huán)沖擊機(jī)PX 2772
WD4000半導(dǎo)體晶圓表面幾何形貌檢測系統(tǒng)PX 5013
信號分析儀PX 1560
SIR201SIR201PX 3043
PHEMOS-1000 / PHEMOS-XEMMI/OBIRCH微光顯微鏡PHEMOS系列PX 2999
JA-13-T/JAC-13-T日本maedauni高檔噴漆用精密測量設(shè)備潔凈室PX 4110
工業(yè)半導(dǎo)體三維加工系統(tǒng)Quantum X shapePX 2029
B1500A半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀PX 3329
XTRAIA CD-3010G玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度射線PX 4027
YP-250IDYAMADA液晶屏表面劃痕檢查燈PX 2040
德國BERTHOLD檢測儀PX 3690
EVG 510 Wafer Bonding晶圓鍵合機(jī)PX 3255
配電室配電柜監(jiān)測系統(tǒng) 在線檢測設(shè)備PX 4014
ASM Eagle 12熱壓粘合器PX 2635
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
Freiberg Instruments MDPspot少子壽命測試儀
美國Sinton WCT-120+Suns-Voc少子壽命測試儀器
臺式雙面電池PID測試儀
少子壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)
弗萊貝格 便攜式現(xiàn)場PID測試儀(PIDcheck)
MDPspot少子壽命測試儀
MDPlinescan在線少子壽命測試儀
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測量儀
半導(dǎo)體電橡塑材料體積電阻率試驗(yàn)儀
計(jì)測網(wǎng)UIH-3D型仕様INTECS鹵素?zé)裟恳暀z查
全自動芯片ESD測試設(shè)備
玉崎科學(xué)半導(dǎo)體設(shè)備理學(xué)Rigaku高精度射線
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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