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玻璃方阻測試儀PX 1939
iFocus晶圓檢測系統(tǒng)PX 7337
芯片X‘ray檢測設(shè)備PX 2745
YP-150I-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售PX 2040
自由曲面三維面型檢測儀PX 1845
CC系列CT系統(tǒng)PX 1800
PA-110-t晶圓應(yīng)力雙折射測量儀PX 2716
Full Deposition PSL Wafer校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)品-半導(dǎo)體表征PX 2729
晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案PX 5975
WD4000晶圓制程檢測設(shè)備幾何量測系統(tǒng)PX 5013
AT2Lumina薄膜缺陷檢測儀PX 2961
FPMVP-MVP900自動光學(xué)檢測系統(tǒng)AOI,晶圓,引線鍵合檢測PX 4378
金屬薄膜方阻測試儀PX 1939
氧化鎵電阻率方阻測試儀PX 1939
晶圓電阻率測試儀PX 1939
無損電阻率測試儀PX 1939
YP-150I備庫銷售-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 2040
YP-150I現(xiàn)貨-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 2040
YP-150I備庫銷售-現(xiàn)貨日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 2040
FY-18N現(xiàn)貨FUNATECH刮痕及灰塵表面目視 檢查燈PX 2040
FY-18N現(xiàn)貨FUNATECH刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 2040
FY-18LFUNATECH現(xiàn)貨刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 2040
FY-18NFUNATECH 現(xiàn)貨 刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 2040
FY-18NFUNATECH現(xiàn)貨刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 2040
FY-18N現(xiàn)貨 FUNATECH 液晶表面檢查燈PX 2040
FY-18NFUNATECH現(xiàn)貨液晶表面檢查燈PX 2040
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 2040
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH液晶表面檢查燈PX 2040
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH表面劃痕灰塵檢查燈PX 2040
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH多用途LED目視照明燈PX 2040
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH半導(dǎo)體硅玻璃晶片檢查燈PX 2040
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH船越龍汽車玻璃劃痕檢查燈PX 2040
FY-18L備庫銷售-現(xiàn)貨-FUNATECH船越龍表面檢查燈PX 2040
FY-18備庫銷售-現(xiàn)貨-FUNATECH船越龍表面檢查燈PX 2040
YP-150I備庫銷售-現(xiàn)貨-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 2040
YP-250I備庫銷售-現(xiàn)貨-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 2040
YP-250I日本YAMADA山田光學(xué)半導(dǎo)體高亮度鹵素檢查燈PX 2040
YP-150I日本YAMADA山田光學(xué)高亮度鹵素半導(dǎo)體檢查燈PX 2040
CA20型CT系統(tǒng)PX 1800
內(nèi)應(yīng)力檢測儀PX 1845
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
玻璃方阻測試儀
金屬薄膜方阻測試儀
氧化鎵電阻率方阻測試儀
晶圓電阻率測試儀
無損電阻率測試儀
自由曲面三維面型檢測儀
內(nèi)應(yīng)力檢測儀
CT系統(tǒng)
-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售
備庫銷售-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈
上海衡平儀器儀表有限公司
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上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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