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碳化硅電阻率方阻測試儀PX 1879
晶圓電阻率測試儀PX 1879
無損電阻率測試儀PX 1879
無損方塊電阻測試儀PX 1879
晶錠非接觸方阻測試儀PX 1879
渦流法方阻測試儀PX 1879
非接觸方阻測試儀PX 1879
全自動非接觸電阻率方阻測試儀PX 1879
HD-SZT-2C/SZT-C四探針測試儀PX 2996
HD-M-3手持式四探針測試儀PX 2996
UltraShape - 晶圓關鍵尺寸測量系統PX 7337
UltraINSP - 晶圓表面缺陷檢測系統PX 7337
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統PX 7337
Orzew FC20/FC20X全自動晶圓關鍵尺寸檢測及分選機PX 7337
UltraFilm薄膜測量系統PX 7337
FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統PX 7337
QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀PX 7337
iFocus晶圓檢測系統PX 7337
FR-Ultra晶圓厚度測量系統PX 7337
FR-ES精簡薄膜厚度測量儀PX 7337
LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置PX 7337
LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置PX 7337
CI8化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置PX 7337
LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置PX 7337
LODAS™ – AI50/100Photomask Blanks缺陷檢查裝置PX 7337
FR-Ultra 晶圓厚度測量系統PX 7337
Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學系統PX 7337
FSM413紅外激光測厚儀PX 7337
StrainScope Flex可調式實時應力儀PX 7337
實時型StrainScope S3/S4 應力儀PX 7337
拼接型StrainMatic stepper應力儀PX 7337
高精度型StrainMatic M4薄膜應力測試儀PX 7337
RTS-8四探針電阻率測試儀器PX 2890
FT/HP系列四探針測試儀探頭PX 2890
手動電動四探針測試儀測試臺PX 2890
RTS-4/5/8/9四探針薄膜電阻率測試儀PX 2890
SB100A/21A四探針金屬/半導體電阻率測量儀PX 2890
SB100A/20A四探針金屬/半導體電阻率測量儀PX 2890
RTS-1345型全自動四探針測試系統PX 2890
ST-21L型方塊電阻測試儀PX 2890
薄膜生長設備
工藝測量和檢測設備
集成電路測試與分選設備
光刻及涂膠顯影設備
熱工藝設備/熱處理設備
硅片制備/晶體生長設備
掩模版和中間掩模版制造設備
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干法工藝設備
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組裝與封裝設備
其它半導體行業儀器設備
晶圓細磨硅片粗糙度測量系統
半導體晶圓厚度量測系統
無圖晶圓粗糙度測量系統
襯底電阻率方阻測試儀
玻璃方阻測試儀
金屬薄膜方阻測試儀
氧化鎵電阻率方阻測試儀
碳化硅電阻率方阻測試儀
全自動非接觸電阻率方阻測試儀
聚乙烯土工薄膜應力開裂測試儀
半導體共面性測量設備
-日本YAMADA山田半導體檢查燈--備庫銷售
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質譜
上海平軒科學儀器有限公司
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