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S neox 0.65XSensofar平面度測量白光干涉儀PX 3373
FR-pRo:Thetametrisis膜厚測量儀PX 7337
WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 2622
SuperViewW1白光干涉3D顯微測量儀PX 4748
DFTQA實驗室干膜厚度質量保證系統PX 2386
AE-100M蘇州萬濠白光干涉儀 AE-100MPX 3002
白光干涉儀PX 3750
F20-Filmetrics光學膜厚測量儀PX 2811
SR-C反射膜厚儀PX 1750
專業銷售 Talysurf CCI白光干涉表面輪廓儀PX 2220
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100PX 4951
Lambda Vision TFW-100分光膜厚儀PX 2428
FSM 413紅外干涉測量設備PX 3264
WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 2948
Sensofar 集成式3D共焦白光干涉儀測量頭PX 3373
S mart2Sensofar 集成式3D白光干涉共聚焦測量頭PX 3373
FR-Scanner:自動化高速薄膜厚度測量儀PX 7337
FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150-自動化高速薄膜厚度測量儀PX 7337
FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150自動化高速薄膜厚度測量儀PX 7337
FR-Scanner自動化高速薄膜厚度測量儀PX 7337
F50Filmetrics 自動化厚度測量儀PX 7337
F10-HCFilmetrics 薄膜厚度測量儀PX 7337
F20Filmetrics薄膜厚度測量儀PX 7337
FR-pRoThetametrisis膜厚測量儀PX 7337
WIP德國Werth WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 2622
FWS 涂層厚度與膜重測試站PX 2386
SuperViewW1納米級白光干涉三維形貌分析測量儀PX 4748
ACS 金屬罐涂層厚度和膜重測量系統PX 2386
SuperViewW1納米級白光干涉三維測量儀PX 4748
高級實驗室涂層厚度測量系統PX 2386
增強型實驗室涂層厚度測量系統PX 2386
SuperViewW1三維形貌顯微白光干涉儀PX 4748
SuperViewW1白光干涉儀三維表面測量系統PX 4748
F54-XY-200薄膜厚度測量儀PX 2811
F32-Filmetrics光學膜厚測量儀PX 2811
F54-XYT-300薄膜厚度測量儀PX 2811
SuperViewW1國產白光顯微干涉三維形貌檢測儀PX 4748
SR-M顯微膜厚儀PX 1750
RT-V反射透射測量儀PX 1750
SR-Mapping反射膜厚儀PX 1750
粒度儀
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試驗機
熱分析儀器
無損檢測
燃燒測定儀
測厚儀
硬度計
流變儀/粘度計
表面/界面性能測定儀
磁學測量儀器
其它物性測試分析儀器
白光干涉3D顯微測量儀
納米級白光干涉三維形貌分析測量儀
納米級白光干涉三維測量儀
Sensofar 集成式3D白光干涉共聚焦測量頭
實驗室干膜厚度質量保證系統
FWS 涂層厚度與膜重測試站
ACS 金屬罐涂層厚度和膜重測量系統
增強型實驗室涂層厚度測量系統
Thetametrisis膜厚測量儀
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