CIPTech 微觀四點探針
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 源順科技儀器有限公司
- 品牌
- 型號 CIPTech
- 產地 丹麥
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2018/5/14 9:00:00
- 訪問次數 1115
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公司產品主要有:X射線衍射系統;多功能穩定度分析儀 ;奈米顆粒大小分析儀;光電制造和檢測系統;粘度分析系統;粒度及微流變分析系統;數字全析顯微鏡;呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析;接觸角及表面張力分析儀;沾筆式納米制程技術;在線粘度計;原子薄膜沉積儀。
SCM
◆ 材料表面 Nano微區范圍的『阻抗』分析
* SPM-CIPTech
◆ IBM & Infineon技術『Current In-Plane Tunneling』
◆ MRAM、讀寫磁頭的 MTJ 『磁阻』和『隧阻』
* micro RSP
◆ 超淺結『Ultra Shallow Junction』 『阻抗』分析
* M4PP SEM Module
◆ SEM 在線微區 Sheet Resistance 點測模塊
◆ 配合 FIB 進行在線 Sheet Resistance 分析
* MFPP & M4PP:四點或多點奈米探針
微觀四點探針 M4PP ,比傳統的四點探針的間距小三個數量級,利用硅微加工技術加工而成。 CAPRES 可以提供間距為 5, 10, 15, 20, 25 和 30 微米的探針。
這種探針技術適用于材料微觀電性能的表征,是半導體和薄膜工業質量控制的理想工具。它們也可被用于研究,例如對多晶材料中單晶粒或單疇的電導率進行成像。或者該技術可用于在超高真空 UHV 下,清潔硅片由于表面重構造成的微觀電子輸送的改變。這項技術是 MIC 和日本東京大學物理系合作的部份結果。
CAPRES 現正致力于為客戶的特殊要求定制探針,可以制作間距小至 1.5 微米的探針。
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