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CIPTech 微觀四點探針

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 源順科技儀器有限公司
  • 品牌
  • 型號 CIPTech
  • 產地 丹麥
  • 廠商性質 經銷商
  • 更新時間 2018/5/14 9:00:00
  • 訪問次數 1115

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


源順有限公司

源順有限公司是一家專門從事納米科技,材料分析,光電產品檢測及生產設備銷售和技術咨詢的高科技公司。我們*代理具有*水平的分析儀器,產品涵蓋了微觀結構觀察,物理性能,力學性能及電磁學性能。
Total Solution ,為客戶提供整體解決方案,是源順公司一貫堅持的宗旨。 這個宗旨象征*、品質與客戶服務,并將在新的世紀中,全面提升服務品質以伴隨您的闊步發展。
源順公司秉持企業文化:『誠信』、『品質』、『服務』、『團隊』、『創新』,本著其宗旨『Total Solution』,繼續將*的技術,以Z佳的成本效益,提供客戶*質的精密分析儀器和生產設備,并堅持Z*的服務。

公司產品主要有:
LUM公司: 多功能的顆粒狀態與穩定度分析儀
Qudix公司: 奈米 & 微米顆粒大小分析儀。
Scinco公司: 可見光及紫外光光度計(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
SOFRASER公司: 在線粘度計。
ProRheo公司: 高階粘度計。
Rame-hart公司: 接觸角及表面張力分析儀。
AET 公司: 微波誘電分析儀
NANOFILM公司: 呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析。
UNIOPT公司: 雙折射分析儀。
NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾筆式納米制程技術。
ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
PNI公司: 原力顯微鏡(AFM)
Capres公司: MRAM,寫磁頭的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微區范圍的阻抗分析.
LYNCEETEC公司: DHM (數字全析顯微鏡)
BEDE公司: 高分辨X射線衍射儀。
OMI公司: Solstice (晶圓或外延片的能階Bandgap分析,Strained Silicon 分析)。
Equinox (IC or MEMS封裝應變,3D熱機械變形及CTE分析)。
Pascal公司: 脈沖雷射濺鍍MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉積儀 (ALD).
EpiQuest公司: 研發型 MOCVD,MBE,VCSEL 氧化系統。


源順公司總部設在香港,在上海和北京設立了分公司,深圳和成都設立了辦事處,并有強大的技術和維修隊伍,為客戶提供Z高水平的產品和服務。

公司產品主要有:X射線衍射系統;多功能穩定度分析儀 ;奈米顆粒大小分析儀;光電制造和檢測系統;粘度分析系統;粒度及微流變分析系統;數字全析顯微鏡;呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析;接觸角及表面張力分析儀;沾筆式納米制程技術;在線粘度計;原子薄膜沉積儀。

 SCM
  ◆ 材料表面 Nano微區范圍的『阻抗』分析
* SPM-CIPTech
  ◆ IBM & Infineon技術『Current In-Plane Tunneling』
  ◆ MRAM、讀寫磁頭的 MTJ 『磁阻』和『隧阻』
* micro RSP
◆ 超淺結『Ultra Shallow Junction』 『阻抗』分析
* M4PP SEM Module
  ◆ SEM 在線微區 Sheet Resistance 點測模塊
  ◆ 配合 FIB 進行在線 Sheet Resistance 分析

* MFPP & M4PP:四點或多點奈米探針

微觀四點探針 M4PP ,比傳統的四點探針的間距小三個數量級,利用硅微加工技術加工而成。 CAPRES 可以提供間距為 5, 10, 15, 20, 25 和 30 微米的探針。

這種探針技術適用于材料微觀電性能的表征,是半導體和薄膜工業質量控制的理想工具。它們也可被用于研究,例如對多晶材料中單晶粒或單疇的電導率進行成像。或者該技術可用于在超高真空 UHV 下,清潔硅片由于表面重構造成的微觀電子輸送的改變。這項技術是 MIC 和日本東京大學物理系合作的部份結果。

CAPRES 現正致力于為客戶的特殊要求定制探針,可以制作間距小至 1.5 微米的探針。

 



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