波長(zhǎng)范圍:360nm-1050nm

  快速全自動(dòng)量測(cè) 

  精密量測(cè)膜厚及折射率 

     各種功能材料的光學(xué)常數(shù)測(cè)量和光譜特性分析 

  15Å~至幾個(gè) um（依賴(lài)何種材料）

 橢貨參數(shù)精度:  ≦0.01for Tan （ψ）;  ≦0.01 for Cos （Δ）

 直接測(cè)量透明基板上之鍍膜，無(wú)需基板背面處理或染黑

 與工研院*的合作來(lái)往建立的光學(xué)基礎(chǔ)，同時(shí)引進(jìn)美國(guó)、法國(guó)、日本、德國(guó)等*技術(shù)，并與不同業(yè)界客戶(hù)交流的實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)，因此相當(dāng)了解客戶(hù)的需求與困擾，所以無(wú)論在硬件與軟件或是分析應(yīng)用，都能滿(mǎn)足客戶(hù)的需求，目前國(guó)內(nèi)外也有相當(dāng)多的實(shí)績(jī)。 

   高質(zhì)量之光學(xué)與電動(dòng)元件，無(wú)需防震桌。 

   燈泡更換容易，客戶(hù)可自行操作，無(wú)需校正。 

      FFT-在應(yīng)用分析上，可除了橢圓儀原本的回歸分析，還增加了傅利葉的分析方式，可針對(duì)不同的材料與厚度使用，User使用上更為便利與快速.

     具有Analyzer Tracking功能，可大幅提升量測(cè)精度，與PEM之效果相同。

   可搭配反射儀使用，可于日后Upgrade

   可量測(cè)透明基板，無(wú)需背后處理。 

   可Upgrade為 in line量測(cè)設(shè)備。

   采用美國(guó)進(jìn)口光譜儀，量測(cè)速度快。

   使用步進(jìn)馬達(dá)并非Rotating Polarizer，避免馬答損壞。 

      固定量測(cè)角度-70度，可避移動(dòng)時(shí)所造成的量測(cè)誤差與機(jī)械損害（光學(xué)儀器都應(yīng)減少移動(dòng)）。 

      產(chǎn)品性?xún)r(jià)比，質(zhì)量與量測(cè)能力可達(dá)甚至超越國(guó)外儀器之水平，公司備有DEMO儀器，可供客戶(hù)實(shí)施操作比較。

      應(yīng)用：量測(cè)LED外延片、觸摸屏鍍層的厚度和折射率等參數(shù)。