主要特點

定點熱分析空間分辨率：sub-100nm

＊ 直接能夠『Add-On』所有 AFM
＊ 呈像模式：接觸式和非接觸式，以獲得區域 AFM 形貌
＊ 同時進行 μ-DTA/μ-TMA 分析以進行微區材料熱分析表征
＊ 定點熱分析：膨脹，Tg，軟化和熔融
＊ 溫度范圍：室溫 ～ 500° C
＊ 升溫/降溫速率：0.1～ 1,500° C/分鐘
＊ 應用于：熱固性樹脂，高分子混煉，藥物，等相變化，熱物性，材料接口分析

儀器介紹

微熱分析 (μTATM) 技術結合掃描熱成像 (SThM) 于『原子力顯微鏡 - AFM』, 而將原子力顯微鏡的一般探針以特殊熱探針予以取代。這種特殊設計的熱探針通過電流時, 除了提供熱源也能測量阻抗。首先, ac 和 dc 熱性質成像 (阻抗加熱組件探頭于一提供溫度的振蕩但同時維持固定的平均溫度) 結合機械測量微TMA『μ-TMA』和微調幅式 DTA 『μ-MTDTA』分析選擇的『微區面積』的熱性質。 

結合掃描熱成像 (SThM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的技術使 得『微熱分析 – μ-TA』證明在材料科學、藥物學、微電子 產品和生物科技系統皆可以有廣泛的應用。  

樣品既可以用探針做微區加熱也可以配合熱平臺做整個樣品的加熱, 甚至于兩種的結合使用。  

利用溫度的變化可以增加更多信息的獲得, 尤其是利用熱卡式和機械方式測量材料的物理性質, 計劃進一步利用附加紅外線放射以產生紅外線光譜和利用 GC-MS 分析經熱裂解產生出來的分解氣體, 必會使得『微熱分析 – μ-TA』成為高分辨的微區表征分析的有效工具。