EM01-PV多入射角激光橢偏儀 EM01-PV多入射角激光橢偏儀
- 公司名稱 北京北方安道科技有限公司
- 品牌
- 型號 EM01-PV多入射角激光橢偏儀
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2017/8/13 19:03:53
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EM01-PV多入射角激光橢偏儀
EM01-PV多入射角激光橢偏儀
EM01-PV-III特點：
1.一體化樣品臺技術，兼容測量單晶和多晶太陽能電池樣品
2.新型樣品調節技術，有效提高樣品定位精度高
3.*的噪聲處理方法，顯著增強信噪比
4.新型光電增強技術，顯著降低生產現場噪聲對結果的影響
5.增加現場供電檢測和調節功能，適應更加復雜的供電環境
6.多種測量模式選擇，適合對不同精度要求的場合
7.多線程軟件結構，提高用戶體驗
EM01-PV-III應用領域：
單晶、多晶及各種薄膜太陽能電池的折射率和膜厚測量領域，既適合科研院所研究使用，亦適合工廠進行工藝研究分析和產線上產品檢測以及EM01系列激光橢偏儀家族的傳統領域，包括半導體、集成電路、微電子、光學鍍膜、醫學與生命科學、電化學、平板顯示領域、磁介質存儲、聚合物、新材料、金屬處理等。
EM01-PV-III性能保證：
1.高穩定性的He-Ne激光光源、高精度的采樣方法以及低噪聲探測技術，保證了系統的高穩定性和高準確度；
2.高精度的光學自準直望遠系統，保證了快速、高精度的樣品方位對準；
3.穩定的結構設計、可靠的樣品方位對準，結合*的采樣技術，保證了快速、穩定測量；
4.分立式的多入射角選擇，可應用于復雜樣品的折射率和厚度的測量；
5.一體化集成式的儀器結構設計，使得系統操作簡單、整體穩定性提高，并節省空間；
6.軟件方便太陽能電池測試和建模。
EM01-PV-III技術指標：
激光波長 632.8nm （He-Ne laser） 膜層厚度精度 0.01nm （對于Si基底上110nm的SiO2膜層） 0.05nm （對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層） 折射率精度 1x10-4 （對于Si基底上110nm的SiO2膜層） 5x10-4 （對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層） 光學結構 PSCA 激光光束直徑 <1mm 入射角度 40°-90°可選，步進5° 樣品方位調整 三維平移調節：±12.5mm（X-Y-Z三軸） 二維俯仰調節：±4° 光學自準直系統對準 樣品臺尺寸 Φ170mm 單次測量時間 0.2s 推薦測量范圍 0-2000nm zui大外形尺寸（長x寬x高） 887 x 332 x 552mm （入射角為90º時） 儀器重量（凈重） 25Kg
北京北方安道科技有限公司專業經營范圍：尼康顯微鏡、奧林巴斯顯微鏡、工業顯微鏡、金相顯微鏡、測量顯微鏡、偏光顯微鏡、數碼顯微鏡、生物顯微鏡、體視顯微鏡、顯微鏡數碼相機接口、多波段冷光源、體視顯微鏡冷光源、數碼圖像處理系統及代理國內外專業生產廠商的*高科技儀器（包括：進口顯微鏡、離心機、天平、超低溫冰箱等）。
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