化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專(zhuān)用儀器>其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備>少子壽命測(cè)試儀>ZH8202 高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀/高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀（學(xué)校用）
ZH8202 高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀/高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀（學(xué)校用）
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱(chēng) 北京中慧天誠(chéng)科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) ZH8202
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2017/9/3 21:43:43
- 訪問(wèn)次數(shù) 484
產(chǎn)品標(biāo)簽
高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀/高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀（學(xué)校用） 型號(hào)：ZH8202
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| 高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀/高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀（學(xué)校用） 型號(hào)：ZH8202 | |
| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介: τ:10～6000μs，ρ＞3Ω·cm ，配數(shù)字示波器;用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量，除需要有一個(gè)測(cè)量平面外，對(duì)樣塊體形嚴(yán)格要求，可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)的重要檢測(cè)項(xiàng)目。 設(shè)備組成 1.光脈沖發(fā)生裝置: 重復(fù)頻率>25次/s 脈 寬>60μｓ 光脈沖關(guān)斷時(shí)間＜1μｓ 紅外光源波長(zhǎng)：1.06～1.09μm（測(cè)量硅單晶） 脈沖電流：5A～20A 如測(cè)量鍺單晶壽命需配置適當(dāng)波長(zhǎng)的光源 2.高頻源: 頻 率：30MHz低輸出阻抗 輸出功率>1W 放大器和檢波器: 頻率響應(yīng)：2Hz～2MHz 3.配用示波器： 配用示波器：頻帶寬度不低于10MHz，Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào)。 測(cè)量范圍： 可測(cè)硅單晶的電阻率范圍：ρ≥0.1Ω·㎝（歐姆·厘米） 壽命值的測(cè)量范圍：5～6000μｓ（微秒） |  |
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