電路板故障儀2400強(qiáng)大的測(cè)試功能特點(diǎn)：

1）適合各種類型的測(cè)試,模擬及數(shù)字集成電路及各種分立器件的測(cè)試
2）可進(jìn)行在線或離線測(cè)試與分析
3）具有24路測(cè)試通道，也可使用探棒進(jìn)行巡檢測(cè)試，針對(duì)各種類型的封裝元件進(jìn)行測(cè)試。
4）安全性高的無電源測(cè)量方式，不用給電路板加電，系統(tǒng)自動(dòng)施加各種類型的測(cè)試條件，zui大可能地保證測(cè)試安全。

5）多種測(cè)試類型：1）簡(jiǎn)單類型V-I曲線測(cè)試，針對(duì)固定某一管腳的不同管腳的測(cè)試，2）矩陣式V-I曲線測(cè)試模式, 可針對(duì)管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測(cè)試。提供了豐富的測(cè)試信息，保證的測(cè)試的可靠性。
6）在進(jìn)行離線測(cè)試時(shí), 可針對(duì)蕊片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析
7）自動(dòng)對(duì)比及儲(chǔ)存V-I曲線,以備日后調(diào)取，方便了元件庫的建立
8）可切換VI,VT及IT三種顯示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件
9）可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度, 進(jìn)行可控規(guī)元器件或FET的功能測(cè)試
10）可進(jìn)行光耦合及繼電器元器件的速度功能測(cè)試
11）具有二組信號(hào)源, 可輸出直流信號(hào), 針對(duì)光耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測(cè)試.
12）顯示相似度百分比，具有業(yè)界中zui多的信號(hào)頻率調(diào)整檔位, 對(duì)于故障的查找有相當(dāng)?shù)膸椭?/font>.
13）測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件
14）系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能, 可針對(duì)測(cè)試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測(cè)試, 以防止量測(cè)信號(hào)失真.
15）可進(jìn)行維修日志的編寫，將維修記錄*保存，以備日后查看。
16）可由軟件加入圖片, 用來清楚的表示被測(cè)元件的位置及電路板樣式.
17）可選擇利用USB或PCI通訊接口來進(jìn)行儀器的操作, 也可安裝在PC內(nèi)來節(jié)省所占的空間.

電路板故障檢測(cè)儀全功能V-I測(cè)試模塊2400

全功能V-I測(cè)試儀
是一個(gè)經(jīng)由計(jì)算機(jī)控制來針對(duì)各類元器件進(jìn)行V-I測(cè)試的模塊.
其大小與一個(gè)CD-ROM的大小相同, 所以它可以被安裝在個(gè)人計(jì)算機(jī)之中或是另外選配的外接盒之中.
而這是一個(gè)包含好壞電路板實(shí)時(shí)對(duì)比的全面性電路板故障檢測(cè)功能.
SYSTEM 8的全功能V-I測(cè)試模塊可*的由客戶來設(shè)定其測(cè)試的各種參數(shù).
用戶可依照不同的組件性來設(shè)定信號(hào)波形參數(shù).即便是波形的顏色或是背景的顏色,也可以依照用戶的需求來進(jìn)行來自行設(shè)定.

這是一個(gè)良好電容器的基本V-I圖形,可以利用實(shí)時(shí)對(duì)比通道來進(jìn)行波形比對(duì),可依比對(duì)的相似度來判定是否為故障組件的圖形.

可利用實(shí)時(shí)雙信道對(duì)比模式來實(shí)時(shí)比對(duì)二點(diǎn)不同通道的波形差異度.可利用此方式來分辯好板壞板上各點(diǎn)量測(cè)波形的相似度,進(jìn)而找到故障的組件.而此方式適合剛?cè)腴T的檢修工程人員來使用.

此模塊還提供了二個(gè)同步脈波輸出信號(hào),可提供MOSFET或門流體的觸發(fā)信號(hào).而其脈沖寬度, 信號(hào)極性及觸發(fā)角度皆可設(shè)置.

功能強(qiáng)大的矩陣掃描式VI曲線量測(cè)方式.它可分別依序?qū)⒏鞴苣_作為一信號(hào)的基準(zhǔn)點(diǎn),再對(duì)其它的管腳作VI曲線量測(cè).此功能會(huì)比一般的VI曲線量測(cè)更精準(zhǔn),更快速.

可同時(shí)顯示多組波形在同一個(gè)顯示窗內(nèi).此方式可同時(shí)檢視多個(gè)通道的比對(duì)結(jié)果.或是點(diǎn)選放大其中一個(gè)波形來進(jìn)行故障波形分析.

V-I 測(cè)試能力

http://www.17.net.cn/main/listmulu1-3.html

量測(cè)通道:24 多任務(wù)信道+2實(shí)時(shí)對(duì)比通道+2同步脈沖信號(hào)信道
信號(hào)電壓范圍:2 V to 50 V peak to peak
電壓分辨率:8 to 12 bits
信號(hào)頻率范圍:37.5 Hz to 12 kHz
信號(hào)電流范圍:1 µA to 150 mA
信號(hào)阻抗范圍:100 Ohm to 1 M
測(cè)試信號(hào)波形:Sine, square, triangle, ramp, pulse
顯示圖形模式:V-I, V-T, I-T
量測(cè)波形自動(dòng)對(duì)比功能:可利用實(shí)時(shí)量測(cè)雙通道來自動(dòng)實(shí)時(shí)對(duì)比好壞組件的波形,或是將波形進(jìn)行存儲(chǔ)之后,再進(jìn)行比對(duì)工作.
同步脈沖輸出模式:正向（Positive）, 負(fù)向（negative）或雙向（bipolar）波形
同步信號(hào)振幅:可調(diào)式由+10 V~-10V
信號(hào)校正:自動(dòng)
附件（Accessories）

標(biāo)準(zhǔn)附件

1x24通道DIL測(cè)試夾
1x24通道測(cè)試線
2x接地線
2x同步脈沖測(cè)試線
1x藍(lán)色V-I測(cè)試探棒
1x黃色V-I測(cè)試探棒
1x雙信道貼片組件測(cè)試夾具
選購附件（Options）
適配卡:PCI interface
獨(dú)立的外接盒:可選配使用USB接口的獨(dú)立式外接盒.

VI曲線的定義

    V-I曲線測(cè)試是一種針對(duì)模擬及數(shù)字電路*且可靠度高的測(cè)試方法.其測(cè)試方式是透過輸出電壓信號(hào)通過被測(cè)組件上所形成的電流信號(hào),而定義出該被測(cè)節(jié)點(diǎn)的阻抗.

而經(jīng)由連續(xù)的電壓-電流信號(hào)的變化所產(chǎn)生的阻抗測(cè)試數(shù)據(jù),將此一連續(xù)的測(cè)試數(shù)據(jù)繪制成一曲線,此為被測(cè)組件的V-I曲線. 通常可利用已知好的電路板上的V-I曲線,來比對(duì)待測(cè)的電路板或組件,可達(dá)到快速故障診斷的目的.而這項(xiàng)測(cè)試技術(shù)zui主要的優(yōu)勢(shì)是在于不需為電路板或組件加電,即可直接進(jìn)行比對(duì)測(cè)試.所以,即使是無法動(dòng)作的電路板也可以進(jìn)行故障檢測(cè)工作. 

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