標準型掃描器 XY：20μm，Z：2μm
分辨能力 XY：0.2nm, Z： 0.01nm（可實現原子級分辨） 

測試功能：

＊ 形貌測量：接觸式AFM、輕敲式Tapping、掃描隧道STM；
＊ 微摩擦力研究：FFM功能、切向調制摩擦力LM-FFM功能，摩擦力曲線； 
＊ 微觀磁力研究：高分辨磁力顯微鏡MFM功能； 
＊ 表面納米加工：Vector Scan和Raster Lithography功能，實現探針定向刻蝕和制作復雜圖像； 
＊ 高分子材料分析：Phase模式、力曲線、粘彈性模式、微區粘性模式； 
＊ 電性學能分析：表面電位勢測量模式、靜電力模式、壓電響應力模式、掃描電容成像模式、同時電流測量模式、電流隧道譜模式；
＊ 生物領域：液體中AFM/Tapping模式、力曲線、支持封閉液體樣品池；
＊ 電化學領域：EC-AFM/STM功能。

世界*原子力顯微鏡（掃描探針顯微鏡），客戶已遍及國內眾多重點高校和科研機構，依的品質和優秀的技術服務，*受到客戶的好評！

其他相關產品：

1.多功能掃描探針顯微鏡：用于測量各種材料表面高精度成像外，還能表征多種材料如無機物非金屬材料、金屬材料、高分子材料、復合材料和生物材料的多種物性，包括磁力、摩擦力、粘彈性、表面電位勢、靜電力、壓電響應、電流像、電流隧道譜、電容等等，還能進行納米尺度的加工及力學性質的表征，能在大氣、液體及電化學條件下測量。

2.新型多功能可控環境掃描探針顯微鏡：目前商用的*一款真正專業級高真空環境控制型SPM， 不但具備多功能掃描探針顯微鏡系統所有功能；而且掃描在封閉的Chamber中進行，可對測量的環境（高真空、高溫、低溫、液體、電化學等）進行控制； 可連續變溫，低溫達-120℃，高溫可達800度；

3.大尺寸樣品掃描探針顯微鏡： 大尺寸φ200mm樣品的微區（微米至納米量級）形貌及其物理特性進行觀測分析。適用于測量各種光盤（DVD，CD，HD等）、磁盤、半導體、微電子及其他大尺寸的樣品。

4.低溫掃描霍爾顯微鏡（LT-SHPM，低溫霍爾顯微鏡）：該系統可與多種低溫杜瓦聯用，實現低溫1K~300K溫度范圍內樣品表面微區磁場分布定量化圖像化分析，樣品尺寸達15＊15＊5mm，微區磁化性能B-H曲線和M-H曲線測量，實時測量動態磁化現象，支持擴展STM、AFM、MFM、EFM和SNOM等功能，磁場高達16T；

5.多功能PPMS掃描探針顯微鏡（PPMS-SPM）：該系統可與現有的幾乎所有的PPMS系統（物性測量系統，如 Quantum Design,Inc. ）聯用，實現AFM、MFM、SHPM、STM、EFM和SNOM等測量功能，并且可在溫度范圍2K~300K和磁場高達16T條件下，高分辨成像；　

6.mK 超低溫掃描探針顯微鏡（mK-SPM，超低溫原子力顯微鏡）：該系統可與牛津儀器的Dilution低溫杜瓦和He3系統，或者其他mK系統聯用，實現mK~300K溫度范圍高分辨樣品表面成像；主要測量功能STM、接觸式AFM、非接觸式AFM、MFM、Quartz/Akiyama AFM、EFM和SNOM等，磁場高達16T；