3AP-CJ-80A 芯片冷熱沖擊試驗箱
參考價 | ¥ 60000 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 廣東愛佩試驗設備有限公司
- 品牌 愛佩科技/A-PKJ
- 型號 3AP-CJ-80A
- 產地 冷熱沖擊老化儀
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/11/13 14:34:39
- 訪問次數 97
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主要生產與銷售的產品有:恒溫恒濕試驗箱、交變濕熱試驗箱、高低溫交變試驗箱、冷熱沖擊實驗箱、紫外光試驗箱、氙燈老化箱、恒溫恒濕實驗室、沙塵試驗箱、淋雨試驗箱、鹽水噴霧試驗箱、各種振動試驗臺、拉力試驗機、蒸汽老化試驗機、跌落試驗機、插拔力試驗機、按健壽命試驗機、紙帶耐磨擦試驗機、工業(yè)烘烤箱
產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
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應用領域 | 電子,交通,綜合 |
芯片冷熱沖擊試驗箱用于電工電子電器機械等零組件、自動化零部件、國防工業(yè)行業(yè)、航空航天研究所、兵工業(yè)、通訊產品或組件、汽車成品或配件、金屬材料、化學材料、五金塑膠、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對冷、熱溫的快速反復抵抗力及工業(yè)產品處于熱脹冷縮的環(huán)境時所出現(xiàn)的化學變化或者物理傷害,可確認工業(yè)產品的質量,從精密的IC到重機械的組件,可作為工業(yè)行業(yè)眾多產品改進質量的依據或參考。以便考核產品的適應性或對測試產品的行
為作出評價。是新產品研發(fā)、樣機實驗、產品合格鑒定試驗全過程的重要試驗手段。
參照標準:
GB/T2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件
芯片冷熱沖擊試驗箱技術參數:
溫度范圍可選:-40~150℃;-55~150℃;-65~150℃
高溫儲溫區(qū):+60℃~+200℃
低溫儲溫區(qū):-10℃~-75℃;
溫度循環(huán)沖擊恢復時間: 3~5min內;溫度循環(huán)沖擊移動時間: ≤10sec內。
升溫時間(蓄熱區(qū)) :RT~200℃約需35min;降溫時間(蓄冷區(qū)) :RT~-70℃約需85min
內箱尺寸可選擇:35×35×40、50×40×40、60×50×50、70×60×60
內外箱材質:外殼防銹處理冷軋鋼板(噴塑)或不銹鋼板(SUS304);內箱100%保證為不銹鋼板(SUS304) ,絕熱材料為聚氨酯泡沫和玻璃纖維
氣動氣缸:高溫、環(huán)境溫度、低溫曝露時的各個風門驅動用
空氣壓縮機:提供驅動氣動風門的壓縮空氣(選件)
安全裝置:超溫保護裝置、漏電保護裝置、短路保護裝置、電機過熱保護裝置、壓縮機超壓保護裝置、超載保護裝置、過電流保護裝置等。