KIF-10A-NW/NTW（KIF-10A-NW/NTW） 小型牛頓干涉儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 北京元中銳科集成檢測技術有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號 KIF-10A-NW/NTW（KIF-10A-NW/NTW）
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2017/7/25 9:32:31
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可進行穩定的檢測
緊湊型的臺式機，可放置于小的空間。在上面放置被測鏡片進行測定，無需花費時間裝卸。帶有防震構造，可簡單地進行穩定的測試。
可根據被檢物簡單地改變測定姿勢（KIF-10A-NW）
可通過只更改腳部安裝部位的位置，來改變測定的姿勢。所以可根據被測物的需求，當作上置式或下置式使用。
采用635nm 波長激光，順利引入生產線。（在線）
因與目前在斐佐型干涉儀上所使用的632.8mm 激光波長極為相似，干涉條紋的條紋感應度也與其近似。可順利應用到現有的檢查加工工程中。（在線）
品種豐富、種類齊全的參照鏡
參照鏡采用1英寸的緊湊結構，其種類與KIF-202L系列相比較也毫不遜色。
主要用途
單體鏡片的光圈數，面精度評價
KIF-10A-NW/NTW規格：
| 受臺開口徑 | Φ42mm | |
| 被測物固定方法 | 鏡片治具（因各鏡片的形狀各異） 受臺的鏡片治具接合口徑Φ63mm | |
| 本體外徑尺寸 | NW | 290（W）×240（D）×600（H） （mm ） （含遮光板） |
| NTW | 750（W）×450（D）×1280（H）mm （桌子高度調整范圍zui大值） | |
| 本體重量 | NW | 約9.0Kg （含干涉儀本體約2.0Kg） |
| NTW | 約37Kg （含干涉儀本體約2.0Kg） | |
| 沖程 | 移動 | ±1mm |
| Z粗動 | 朝上：沖程156mm 朝下：沖程130mm （但因被測物的厚度，鏡片治具形狀各異） | |
| Z微動 | ±1mm | |
| 選件 | 小型顯示器（2.5型，5.6型） 參照鏡 孔徑轉換器RF25-D6 |
鏡片治具敬請客戶自行配備
KIF-10A-NW/NTW 各參照鏡的測量范圍
KIF-10A-NW （上置式）/NTW
| 參照鏡 | 檢查可能曲率半徑 | 檢查可能曲率半徑 | 檢查可能zui大口徑 | 檢查可能zui大口徑 | ||
| FNO | zui終R | R/D | 凸 | 凹 | 凸 | 凹 |
| 0.6 | 8.2 | 0.67 | 6.7 | 169.0 | 10.0 | 41*2 |
| 0.7 | 11.8 | 0.78 | 10.5 | 165.0 | 13.5 | 41*2 |
| 1.0 | 20.0 | 1.07 | 18.0 | 157.0 | 16.8 | 41*2 |
| 1.5 | 31.5 | 1.53 | 30.0 | 145.0 | 19.6 | 41*2 |
| 2.0 | 44.4 | 2.04 | 43.0 | 132.0 | 21.1 | 41*2 |
| 3.0 | 69.5 | 3.05 | 68.0 | 106.0 | 22.3 | 34.7 |
| 6.0 | 147.1 | 6.09 | 146.0 | - | 24.0 | - |
KIF-10A-NW （下置式）
| 參照鏡 | 檢查可能曲率半徑 | 檢查可能曲率半徑 | 檢查可能zui大口徑 | 檢查可能zui大口徑 | ||
| FNO | zui終R | R/D | 凸 | 凹 | 凸 | 凹 |
| 0.6 | 8.2 | 0.67 | 6.7 | 143.0 | 10.0 | 100*1 |
| 0.7 | 11.8 | 0.78 | 10.5 | 139.0 | 13.5 | 100*1 |
| 1.0 | 20.0 | 1.07 | 18.0 | 132.0 | 16.8 | 100*1 |
| 1.5 | 31.5 | 1.53 | 30.0 | 120.0 | 19.6 | 78.4 |
| 2.0 | 44.4 | 2.04 | 43.0 | 107.0 | 21.1 | 52.4 |
| 3.0 | 69.5 | 3.05 | 68.0 | 82.0 | 22.3 | 26.8 |
| 6.0 | 147.1 | 6.09 | 146.0 | - | 24.0 | - |
可測定的zui大曲率半徑所表示的是在設定被檢物的厚度為零的情況下的數值。
可測定的zui大曲率半徑是在凹面側并根據鏡片結合夾具形狀、干涉儀的設置方向（上置型/下置型）等的機械尺寸以及受臺部形狀而變化
可測量zui大口徑中，帶有*1記號的數值為受臺上可放置的zui大口徑，帶有*2記號的數值為根據受臺開口徑確定的可測定zui大口徑。
FNO 表示光學設計上近軸FNO，實效值用R/D表示。
可檢查zui小口徑以及zui小曲率半徑根據被檢物的形狀而異。
相關符號：R：曲率半徑、D：直徑
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