KIF-PU 透過波面測定干涉儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 北京元中銳科集成檢測技術有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號 KIF-PU
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2019/8/19 11:52:36
- 訪問次數 1592
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無需選擇操作員即可進行穩定的測定
配備了標準的壓電驅動受臺的自動調整構造以及軟件,降低了調整誤差所導致的測定值的變動。在高NA的光讀取頭鏡片的透過波面測定中發揮威力。
可測定405nm帶鏡片·650nm帯鏡片
標準裝載了405nm光源與658nm光源的兩種波長,可通過簡單的操作切換測定波長,可對任一方的光學部品進行評價。
可進行直線/圓偏光切換
測定具有在讀取頭光學部品中使用的偏光依存性的被檢物時,需要進行直線/圓偏光切換。進行塑料以及晶體等具有復屈折特性的部品的透過波面測定。
小型·高剛性
小型且高剛性的本體具有防振功能且充分考慮到生產現場的使用環境,所以不占空間即可進行迅速的品質檢查。
可進行合否判定
的軟件,具有根據任意設定的規格值進行合否判定的機能,所以在生產線中可簡單地進行合否的判定。
主要用途:
· DVD、Blu-Ray Disk等的對物透鏡的透過波面測定
· 光讀取頭光學部品的透過波面測定
· 小型反射鏡、棱鏡等的光學部品的透過波面測定
主要規格:
測定波長 | 圖片 2405nm , 658nm (激光等級 2 產品) |
干涉方式 | Twyman-Green( 泰曼 - 格林 ) |
測定光束徑 | Φ 6mm 測定可能徑 Φ 2 ~ 6mm ( 包括調整用周邊的徑 ) |
偏光規格 | 圓·直線切換 |
反射球面 | N.A 0.85 |
焦點 | 有 |
調整 | 有 ( spot monitor ) |
干涉條紋表示圖像大小 | 630 X 470 (像素) |
解析方式 | 條紋掃描方式 |
遙控 調整 | 標準裝備 遙控調整范圍 :± 50um ( 手動調整范圍 :± 0.5mm ) |
倍率 | 1X , 3X ( 數碼倍率切換 ) |
裝置重量 | 本體 : 約 22kg( 除電腦 、 打印機 ) 遙控控制器 : 約 0.5kg |
裝置尺寸 | 本體 : 330(W) × 465(D) × 460(H)mm 遙控控制器 : 154(W) × 100(D) × 75(H)mm |
電源規格 | 100 - 240V AC 100VA 50-60Hz |
使用環境 | 水平且無振動的地方 ( 地面振動 ± 0.8m/s2 以下) 溫度: 23 ± 3 ℃ 濕度: 60 %以下、 無結露 |