DIL 806 光學熱膨脹儀

技術

DIL 806 光學熱膨脹儀采用了創(chuàng)新的測量原理，使非傳統(tǒng)的熱膨脹實驗成為可能，并改善了許多傳統(tǒng)的測試

測量原理

DIL 806采用了陰影光的方法。在該方法中，通過測量CCD探測器上樣品的陰影來測量一個方向上樣品的絕對尺寸的大小。 高強度的GaN LED發(fā)出平面光，通過一個擴散單元和準直透鏡，產生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。有陰影的光束通過遠心光學系統(tǒng)進行精細處理，并由高分辨率的CCD探測器記錄。數(shù)字邊緣檢測自動確定陰影的寬度，進而測定樣品的尺寸。

絕對測量的優(yōu)勢

DIL 806測量本質上是一個絕對的測量，不受隨溫度程序變化的系統(tǒng)熱膨脹的影響。 只有樣品經歷溫度的變化，光源和檢測器與這些變化相隔離。因此，測量是絕對的，不需要進行頂桿式膨脹儀使用中常見的特定測試的校準。