化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線探測(cè)裝置>ZSX Primus III NEXT 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
ZSX Primus III NEXT 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
- 公司名稱 玉崎科學(xué)儀器(深圳)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) ZSX Primus III NEXT
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/9/29 10:45:04
- 訪問(wèn)次數(shù) 104
聯(lián)系方式:林朝植19270304869 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
真空泵;離心機(jī),;監(jiān)測(cè)儀,真空系統(tǒng),除塵裝置,數(shù)字粉塵儀;粒子計(jì)數(shù)器,環(huán)境監(jiān)測(cè)設(shè)備,環(huán)境測(cè)量設(shè)備 環(huán)境檢測(cè)設(shè)備
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,制藥,綜合 |
---|
半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
配備廣泛的安全保障機(jī)制和功能
頂部照明方式
由于X射線從樣品上方照射,即使粉末顆粒從樣品中散射,光學(xué)系統(tǒng)也不會(huì)受到影響。不需要薄膜來(lái)防止樣品掉落。 ZSX Primus III NEXT進(jìn)一步抑制了灰塵流入設(shè)備內(nèi)部。
ZSX Primus III NEXT 概述
電腦異常時(shí)測(cè)量時(shí)自動(dòng)排出樣品功能
如果在測(cè)量分析樣品時(shí)操作系統(tǒng)出現(xiàn)故障,分析儀配備了保護(hù)功能,可防止分析樣品無(wú)意中長(zhǎng)時(shí)間留在測(cè)量設(shè)備中,導(dǎo)致設(shè)備和樣品損壞。
設(shè)置用戶對(duì)軟件的訪問(wèn)級(jí)別
可以為每個(gè)操作員設(shè)置軟件的訪問(wèn)級(jí)別。這可以防止由于操作錯(cuò)誤而導(dǎo)致數(shù)據(jù)庫(kù)更改或刪除。
快速分析
通過(guò)在X射線計(jì)數(shù)系統(tǒng)中安裝數(shù)字多通道分析儀(D-MCA:1024通道規(guī)格),我們通過(guò)高速數(shù)字處理實(shí)現(xiàn)了高達(dá)高計(jì)數(shù)率范圍的計(jì)數(shù)線性。通過(guò)高速數(shù)據(jù)處理和各驅(qū)動(dòng)單元的高效控制,與傳統(tǒng)設(shè)備相比,定量分析的吞吐量提高了21%。
環(huán)保設(shè)計(jì)
?檢測(cè)器無(wú)需氣體
還可以安裝環(huán)保型輕元素氣體保護(hù)正比計(jì)數(shù)器(S-PC LE)。由于檢測(cè)器不需要供氣,因此即使在難以獲得或安裝高壓氣體的地方也可以安裝該裝置(可選)。
?節(jié)能設(shè)計(jì)
除了減少冷卻水量和PR氣體流量外,還具有在不進(jìn)行分析時(shí)自動(dòng)降低X射線輸出的節(jié)能操作功能以及自動(dòng)斷電功能。
?加強(qiáng)對(duì)測(cè)量和分析的支持
我們加強(qiáng)了對(duì)經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的ZSX Primus IV / ZSX Primus IVi軟件<ZSX Guidance>的常規(guī)分析,并充分利用D-MCA數(shù)據(jù)來(lái)提高準(zhǔn)確性。另外,獲得的定量分析結(jié)果的誤差可以以標(biāo)準(zhǔn)差的形式顯示,可以有效地評(píng)價(jià)分析值的可靠性。
調(diào)度程序功能可簡(jiǎn)化日常分析管理(自動(dòng)啟動(dòng)+自動(dòng)漂移校正功能),大大減少分析工作前準(zhǔn)備工作所需的人力。
擴(kuò)展應(yīng)用程序包
與旗艦機(jī) ZSX Primus IV / ZSX Primus IVi 兼容的行業(yè)特定應(yīng)用程序包也可以與該設(shè)備 ZSX Primus III NEXT 一起使用。
輕松共享應(yīng)用程序
通過(guò)與頂照式ZSX PrimusIV、ZSX Primus III NEXT和底照式ZSX Primus IVi創(chuàng)建通用的硬件和軟件平臺(tái),可以在三個(gè)型號(hào)和同一型號(hào)之間輕松共享應(yīng)用程序。
ZSX Primus III NEXT 規(guī)格
產(chǎn)品名稱 | ZSX Primus III NEXT | |
---|---|---|
方法 | 波長(zhǎng)色散射線熒光分析 (WDXRF) | |
目的 | 固體、粉末、合金和薄膜的元素分析 | |
技術(shù) | 掃描波長(zhǎng)色散射線熒光分析 (WDXRF) | |
主要部件 | 3kW封閉式X射線管,10晶體自動(dòng)交換器 | |
選項(xiàng) | 48 個(gè)樣品自動(dòng)進(jìn)樣器(托盤(pán)) 輕元素氣體保護(hù)正比計(jì)數(shù)器 (S-PC LE) | |
控制(電腦) | 外部 PC、MS Windows® 操作系統(tǒng)、ZSX 指導(dǎo) | |
機(jī)身尺寸 | 1310(寬)×1508(高)×890(深)毫米 | |
質(zhì)量(主體) | 約620公斤 | |
電源 | 設(shè)備:3相,200V,40A 計(jì)算機(jī):100V,10A |
相關(guān)分類
該廠商的其他產(chǎn)品
- NANOHUNTER II 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku射熒光射線分析儀
- NEX CG II 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
- Micro-Z CL 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
- Micro-Z ULS 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
- Simultix15 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
- ZSX Primus400 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
- ZSX Primus IVi 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
- Supermini200 半導(dǎo)體設(shè)備日本理學(xué)Rigaku熒光射線分析儀
相關(guān)技術(shù)文章
- 在食品和藥品生產(chǎn)線上使用X射線
- 微焦點(diǎn)X射線系統(tǒng)通常由X射線管、
- 丙種射線報(bào)警器功能特點(diǎn)及應(yīng)用
- X射線重金屬檢測(cè)儀在操作時(shí)有什
- NAOMi-CT納奧米桌面式CT鑒定茅臺(tái)
- xiRAY相機(jī)被選為第1臺(tái)11mpix微型
- X射線無(wú)損探傷是現(xiàn)代工業(yè)安全檢
- X射線檢測(cè)服務(wù)的創(chuàng)新應(yīng)用與發(fā)展
- 華瑞PGM-6208便攜式輻射測(cè)量?jī)x說(shuō)
- Micro - x的金剛石陽(yáng)極 -------