化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器>其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備>其它半導(dǎo)體設(shè)備>100V 650W 計(jì)測網(wǎng)UIH-3D型仕様INTECS鹵素?zé)裟恳暀z查
100V 650W 計(jì)測網(wǎng)UIH-3D型仕様INTECS鹵素?zé)裟恳暀z查
參考價(jià) | ¥ 23255 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 深圳市京都玉崎電子有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) 100V 650W
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/8/13 14:43:53
- 訪問次數(shù) 193
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主要經(jīng)營光學(xué)設(shè)備、電子計(jì)測儀器、科學(xué)儀器、機(jī)械加工設(shè)備、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、PC周邊用品、作業(yè)工具用品、電源、化學(xué)用品、FA
價(jià)格區(qū)間 | 2萬-5萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,航天,汽車 |
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計(jì)測網(wǎng)UIH-3D型仕様INTECS鹵素?zé)裟恳暀z查
計(jì)測網(wǎng)UIH-3D型仕様INTECS鹵素?zé)裟恳暀z查
品牌介紹:
點(diǎn)火監(jiān)視裝置(TAM系列)、超高亮度照明裝置(UIH-1、UIH-2、UIH-3)、半導(dǎo)體晶片截面形狀測量裝置(WEMS、VSSW)等測量裝置制造現(xiàn)場。
垃圾坑點(diǎn)火監(jiān)控裝置、超高亮度照明裝置
垃圾坑點(diǎn)火監(jiān)測裝置
這是為了防止焚燒廠的垃圾坑(bunkas)發(fā)生火災(zāi)而開發(fā)的紅外線監(jiān)控裝置。通過與自動(dòng)水炮聯(lián)動(dòng),可以實(shí)現(xiàn)高精度的自動(dòng)瞄準(zhǔn)水炮。
超亮燈光設(shè)備
這是一種非破壞性測量半導(dǎo)體晶片的截面形狀和尺寸的裝置。您可以測量晶圓邊緣的尺寸、角度和半徑。
霧度檢查用照明裝置
本頁包含霧度檢查照明設(shè)備的說明以及產(chǎn)品和維修查詢的聯(lián)系信息。
晶片截面形狀測定裝置
這是一種非破壞性測量半導(dǎo)體晶片的截面形狀和尺寸的裝置。可以測量晶圓邊緣尺寸、角度和半徑。
*1 為了保護(hù)燈泡,即使在主電源開關(guān)關(guān)閉的情況下
,仍可通過風(fēng)扇保持冷卻直至燈室內(nèi)溫度降至約 40℃ 或更低的功能。
UIH-1C 外形尺寸 (PDF)
UIH-1C 使用說明書 說明書 (PDF)
UIH 系列使用說明書 說明書 (PDF)
UIH 系列規(guī)格說明書 (PDF)
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