1.  產品概述：

探針臺是一種精密的電子測試設備，主要用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。它廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量，旨在確保產品質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。探針臺通常由載物臺（樣品臺）、光學元件、卡盤、探針卡、探針夾具及電纜組件等部分組成，其核心部件包括x-y工作臺，該工作臺的結構對探針臺的性能和使用體驗有重要影響。

2 設備用途/原理：

1. 晶圓檢測：在半導體制造過程中，探針臺主要用于晶圓制造環節的晶圓檢測，確保晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試，實現更加精確的數據測試測量。

2. 芯片研發和故障分析：探針臺可用于芯片研發過程中的原型驗證和性能評估，幫助工程師及時發現和解決潛在問題，優化芯片設計。同時，它也可用于芯片的故障分析，定位問題區域。

3. 封裝檢測：在封裝工藝之前，探針臺用于對芯片進行CP測試（Chip Probing Test），確保封裝前的芯片性能符合標準。

4. 其他應用：探針臺還廣泛應用于光電檢測、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、測量表面電阻率測試、精密儀器生產檢測、航空航天實驗等領域。

3. 設備特點

 1 高精度定位：探針臺配備高精度的定位系統和微調機構，能夠精確地將探針定位到芯片上測試點，并實現穩定的接觸，確保測試的準確性和可靠性。

 2 多功能性：探針臺支持多種測試需求，包括電壓、電流、電阻、頻率、溫度等參數的測量，以及小電流量測、電容量測、高壓量測、R/F量測、I/O點量測等。

 3 高效測試：探針臺支持多點測試，能夠同時測試芯片上的多個測試點，提高測試效率。此外，一些先進的探針臺還具備自動化功能，能夠自動完成測試序列，進一步減少人工干預。
4 設備參數

• 可移動壓板，高度調節 40 mm，接觸/分離行程 200 μm，重復精度± 1 μm

• 具有可調摩擦力和階段鎖定的卡盤階段，Z軸卡盤調整和90毫米的拉出

• 磁性定位器具有 1 μm 特征分辨率和 3 個帶精密滾珠軸承的線性軸

• 包括匹配的電纜和基材

• 射頻卡盤 ±3 μm 表面平面度

• 200 μm 壓板接觸/分離行程，精度≤± 1 μm，可實現可重復接觸