透射電子顯微鏡原位加熱/電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內安裝MEMS工藝制成的微加熱芯片和電學測量芯片。微加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱，電學測量芯片可對樣品進行電性質測量。并可在進行加熱和電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

PicoFemto透射電鏡360水平旋轉樣品桿，同時具備β角傾轉以及360水平旋轉的功能，可以在透射電子顯微鏡中多自由度高精度旋轉樣品。

PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉樣品桿，同時具備β角傾轉以及360°水平旋轉的功能，可以在透射電子顯微鏡中多自由度高精度旋轉樣品。

性能指標：

● 兼容型號電鏡及極靴；

● 保證電鏡原有分辨率；

● 保證電鏡原有真空度；

● 雙傾可選（±30°同時受限于極靴）；

● 流暢、準確、連續地實現水平方向360°旋轉，延遲以及震動極?。?/p>

● 高精度電機控制的β方向傾轉以及水平方向旋轉。

• 部分國內用戶

  

  部分國外用戶