HUSTEC-DC-2010 半導體分立器件參數測試系統
參考價 | ¥ 1 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 深圳市華科智源科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 HUSTEC-DC-2010
- 產地 深圳市寶安區航城街道恒豐工業城C4棟816
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/5/21 11:32:55
- 訪問次數 43
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價格區間 | 面議 | 應用領域 | 化工,能源,電子,交通,汽車 |
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主機尺寸 | 深 660*寬 430*高 210(mm) | 主機重量 | <35kg |
主機顏色 | 銀色系 | 主機功耗 | <300W |
海拔高度 | 海拔不超過 4000m | 環境要求 | -20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作) |
相對濕度 | 20%RH~75%RH (無凝露,濕球溫度計溫度 45℃以下) | 大氣壓力 | 86Kpa~106Kpa |
防護條件 | 無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等 |
半導體分立器件參數測試系統產品介紹
HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數測試系統是由我公司技術團隊結合半導體功率器件測試的多年經驗,以及眾多國內外測試系統產品的熟悉了解后,自主開發設計的全新一代“晶體管直流參數測試系統”。軟件及硬件均由團隊自主完成。這就決定了這款產品的功能性和可靠性能夠得到持續完善和不斷的提升。
脈沖信號源輸出方面,高壓源標配1400V(選配2KV),高流源標配100A(選配40A,200A)柵極電壓40V,柵極電流10mA,分辨率至1mV/30pA,精度可至0.5%。程控軟件基于Lab VIEW平臺編寫,填充式菜單界面。采用帶有開爾文感應結構的測試插座,自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證測試結果準確可靠。產品可測試Si,SiC,GaN材料的IGBTs,DIODEs,MOSFETs,BJTs,SCRs等7大類26分類的電子元器件。涵蓋電子產品中幾乎所有的常見器件。無論電壓電流源還是功能配置都有著的擴展性。
產品為桌面放置的臺式機結構,由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機和機械手建立工作站,實現快速批量化測試。通過軟件設置可依照被測器件的參數等級進行自動分類存放。能夠的應對“來料檢驗”“失效分析”“選型配對”“量產測試”等不同場景。
產品的可靠性和測試數據的重復性以及測試效率都有著非常優秀的表現。創新的“點控式夾具”讓操作人員在夾具上實現一點即測。操作更簡單效率更高。測試數據可保存為EXCEL文本。
半導體分立器件參數測試系統產品信息
產品型號:HUSTEC-DC-2010
產品名稱:元器件直流參數測試系統;
物理規格
主機尺寸:深 600*寬 400*高 200(mm)
主機重量:<35kg
主機顏色:白色系
電氣環境
主機功耗:<100W
海拔高度:海拔不超過 4000m;
環境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);
相對濕度: 20%RH~75%RH (無凝露,濕球溫度計溫度 45℃以下);
大氣壓力:86Kpa~106Kpa;
防護條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等;
電網要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;
工作時間:連續;
應用場景
? 測試分析(功率器件研發設計階段的初始測試)
? 失效分析(對失效器件進行測試分析,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提 出改善方案)
? 選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較一致的器件進行分類配對)
? 來料檢驗(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
? 量產測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備,實現規模化、自動化測試)
產品特點
(1) 可測試 7 大類 26 分類的各類電子元器件;
(2) PC 機為系統的主控機;
(3) 基于 Lab VIEW 平臺開發的填充式菜單軟件界面;
(4) 自動識別器件極性 NPN/PNP (5) 16 位 ADC,100K/S 采樣速率;
(6) 程控高壓源 10~1400V,提供 2KV 選配;
(7) 程控高流源 1uA~40A,提供 100A,300A,500A 選配;
(8) 驅動電壓 10mV~40V;
(9) 控制極電流 10uA~10mA;
(10) 四線開爾文連接保證加載測量的準確;
(11) 通過 RS232 接口連接校準數字表,對系統進行校驗;
(12) Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin)
(13) 可為用戶提供豐富的測試適配器
(14) 連接分選機測試量為每小時 1 萬個
(15) 可以測試結電容,諸如 Cka,Ciss,Crss,Coss;
(16) 脈沖電流自動加熱功能,方便高溫測試,無需外掛升溫裝置;
測試范圍
01. Diode / 二極管(穩壓、瞬態、三端肖特基、TVS、整流橋、三相整流橋)
02. BJT / 三極管
03. Mosfet & JFET / 場效應管
04. SCR / 可控硅(單向/雙向)
05. IGBT / 絕緣柵雙極大功率晶體管
06. OC / 光耦
07. Relay / 繼電器
08. Darlington tube / 達林頓陣列
09. Current sensor/電流傳感器
10. 基準IC(TL431)
11. 電壓復位IC
12. 穩壓器(三端/四端)
13. 三端開關功率驅動器
14. 七端半橋驅動器
15. 高邊功率開關
16. 電壓保護器(單組/雙組)
17. 開關穩壓集成器
18. 壓敏電阻
19.電壓監控器
應用場景
1、測試分析(功率器件研發設計階段的初始測試,主要功能為曲線追蹤儀)
2、失效分析(對失效器件進行測試分析,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案)
3、選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較一致的器件進行分類配對)
4、來料檢驗(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
5、量產測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備,實現規模化、自動化測試)
6、替代進口(可替代同級別進口產品)
性能指標
測試參數
(1) 二極管類:二極管 Diode
Kelvin,Vrrm,Irrm,Vf,△Vf,△Vrrm,Cka,Tr(選配);
(2) 二極管類:穩壓二極管 ZD(Zener Diode)
Kelvin,Vz,lr,Vf,△Vf,△Vz,Roz,lzm,Cka;
(3) 二極管類:穩壓二極管 ZD(Zener Diode)
Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka;
(4) 二極管類:三端肖特基二極管 SBD(SchottkyBarrierDiode)
Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr(選配);
(5) 二極管類:瞬態二極管 TVS
Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ;
(6) 二極管類:整流橋堆
Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka;
(7) 二極管類:三相整流橋堆
Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka;
(8) 三極管類:三極管
Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、 Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr (選配)、Ts (選配)、Value_process;
(9) 三極管類:雙向可控硅
Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、 Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm;
(10)三極管類:單向可控硅
Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、 Vtm;
(11)三極管類:MOSFET
Kelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、 Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ;
(12)三極管類:雙 MOSFET
Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、 Coss、Crss;
(13)三極管類:JFET
Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、 Ciss、Crss、Coss;
(14)三極管類:IGBT
Kelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss;
(15)三極管類:三端開關功率驅動器
Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt;
(16)三極管類:七端半橋驅動器
Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt;
(17)三極管類:高邊功率開關
Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt;
(18)保護類:壓敏電阻
Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr ;
(19)保護類:單組電壓保護器
Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;
(20)保護類:雙組電壓保護器
Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;
(21)穩壓集成類:三端穩壓器
Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、 ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk;
(22)穩壓集成類:基準 IC(TL431)
Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka;
(23)穩壓集成類:四端穩壓
Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、 Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk;
(24)穩壓集成類:開關穩壓集成器
選配;
(25)繼電器類:4 腳單刀單組、5 腳單刀雙組、8 腳雙組雙刀、8 腳雙組四刀、固態繼電器
Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton(選配)、Toff(選配);
(26)光耦類:4 腳光耦、6 腳光耦、8 腳光耦、16 腳光耦
Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf;
(27)傳感監測類:
電流傳感器(ACS712XX 系列、CSNR_15XX 系列)(選配); 霍爾器件(MT44XX 系列、A12XX 系列)(選配); 電壓監控器(選配); 電壓復位 IC(選配);
參數指標
1. 電流/電壓源 VIS 自帶 VI 測量單元
1). 加壓(FV)
量程 | 分辨率 | 精度 |
±40V | 19.5mV | ±1% 設定值±10mV |
±20V | 10mV | ±1% 設定值±5mV |
±10V | 5mV | ±1% 設定值±3mV |
±5V | 2mV | ±1% 設定值±2mV |
±2V | 1mV | ±1% 設定值±2mV |
2).加流(FI):
量程 | 分辨率 | 精度 |
±40A | 19.5mA | ±2% 設定值±20mA |
±4A | 1.95mA | ±1% 設定值±2mA |
±400mA | 1195uA | ±1% 設定值±200uA |
±40mA | 119.5uA | ±1% 設定值±20uA |
±4mA | 195nA | ±1% 設定值±200nA |
±400uA | 19.5nA | ±1% 設定值±20nA |
±40uA | 1.95nA | ±1% 設定值±2nA |
說明 :電流大于 1.5A 自動轉為脈沖方式輸出 ,脈寬范圍 :300us-1000us 可調
3). 電流測量(MI)
量程 | 分辨率 | 精度 |
±40A | 1.22mA | ±1% 讀數值±20mA |
±4A | 122uA | ±0.5% 讀數值±2mA |
±400mA | 12.2uA | ±0.5% 讀數值±200uA |
±40mA | 1.22uA | ±0.5% 讀數值±20uA |
±4mA | 122nA | ±0.5% 讀數值±2uA |
±400uA | 12.2nA | ±0.5% 讀數值±200nA |
±40uA | 1.22nA | ±1% 讀數值±20nA |
4). 電壓測量(MV)
量程 | 分辨率 | 精度 |
±40V | 1.22mV | ±1% 讀數值±20mV |
±20V | 122uV | ±0.5% 讀數值±2mV |
±10V | 12.2uV | ±0.5% 讀數值±200uV |
±5V | 1.22uV | ±0.5% 讀數值±20uV |
2. 數據采集部分 VM
16 位 ADC ,100K/S 采樣速率
1). 電壓測量(MV)
量程 | 分辨率 | 精度 |
±2000V | 1.22mV | ±1% 讀數值±20mV |
±100V | 122uV | ±0.5% 讀數值±2mV |
±10V | 12.2uV | ±0.5% 讀數值±200uV |
±1V | 1.22uV | ±0.5% 讀數值±20uV |
2). 漏電流測量(MI)
量程 | 分辨率 | 精度 |
±100mA | 30uA | ±1% 讀數值±30uA |
±10mA | 3uA | ±1% 讀數值±3uA |
±1mA | 300nA | ±1% 讀數值±300nA |
±100uA | 30nA | ±1% 讀數值±30nA |
±10uA | 3nA | ±1% 讀數值±10nA |
±1uA | 300pA | ±1% 讀數值±10nA |
±100nA | 30pA | ±1% 讀數值±5nA |
3). 電容容量測量(MC)
量程 | 分辨率 | 精度 |
6nF | 10PF | ±5% 讀數值±50PF |
60nF | 100PF | ±5% 讀數值±100PF |
3. 高壓源 HVS(基本)12 位 DAC
1).加壓(FV)
量程 | 分辨率 | 精度 |
1400V/5mA | 30.5mV | ±0.5% 設定值±500mV |
200V/10mA | 30.5mV | ±0.5% 設定值±500mV |
40V/50mA | 30.5mV | ±0.5% 設定值±500mV |
2).加流(FI):
量程 | 分辨率 | 精度 |
10mA | 4.88uA | ±2% 設定值±10uA |
2mA | 488nA | ±1% 設定值±2uA |
200uA | 48.8nA | ±1% 設定值±200nA |
20uA | 4.88nA | ±1% 設定值±20nA |
2uA | 488pA | ±2% 設定值±10nA |