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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測>其它無損檢測儀器/設備>MPKLL 2 美國GE探頭線

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MPKLL 2 美國GE探頭線

參考價 1500
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準

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      深圳市泰立儀器儀表有限公司成立于2005年,無損檢測儀器配套方案提供商,專業從事:磁導率測量、電導率測量渦流漏磁、超聲、射線、金相、光譜、材料檢測...測試儀器儀表設備的代理、銷售和服務工作。并與國外杰出儀表生產廠商有著廣泛的技術與銷售合作的良好基礎。德國FOERSTER霍釋特、德國NewSonic、德國Optisense、以色列 ScanMaster、美國Dakota達高特、英國SONATEST聲納、英國ETHER NDE易德、美國GE通用、等公司的中國區銷售代理。產品廣泛應用于工業、電子、半導體、太陽能、醫藥、能源等各個領域,并服務于各大企業、院校、研究所、檢測機構及政府部門等。







超聲波測厚儀,超聲波探傷儀,渦流探傷儀,超聲波相控陣探傷儀,電導率儀,磁導率儀,汽車車身點焊檢測儀,COMET工業射線機,工業內窺鏡,工業CR/DR數字射線系統,熱分析儀

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 電子,航天,汽車,電氣,綜合

美國GE探頭線


常用探頭線接口類型圖例


美國GE探頭線


美國GE探頭線

超常用探頭線

注:線長都可按要求定制


1端

2端

線長

對應GE型號

LEMO01

LEMO01

2m

PKLL2

LEMO01

LEMO00

2m

MPKL2

LEMO01

Microdot

2m

MPKM2

2XLEMO 01

雙聯LEMO 00

2m

SEKG2

2XLEMO 01

2XMicrodot

2m

SEKM2

2XLEMO 01

2XLEMO 00

2m

SEKL2

LEMO00

LEMO00

2m

MPKLL2

Microdot

LEMO00

2m

CL331

Microdot

LEMO00 90°

2m

C-604

雙聯LEMO 00

雙聯LEMO 00

1.2m

KBA533

BNC

Microdot

1.8m

MD-BNC

BNC

LEMO01

1.8m

L1-BNC


特殊探頭線

DA590探頭專用——鎧裝高溫探頭線C123

DA590探頭專用——無鎧裝高溫探頭線C120

點焊探頭專用耐磨探頭線:LEMO 00-LEMO00接口

MPKL2XS長度2m / MPKL 3XS長度3m / MPKL 4XS長度4m

PKLL2 超聲波探傷儀探頭線 ,適用于B2S,B4S等單晶直探頭

USM86接口雙LEMO-00,USM GO接口2xLemo 1


  1. 鋼結構行業推薦配置:

    直探頭:MB2S,斜探頭:SWB45-2、SWB60-2、SWB70-2,電纜線:MPKLL2


  2. 航空航天(輔材)行業推薦配置:

    直探頭:Alpha113-114-660(5MHZφ13mm),Alpha113-126-660(10MHZ6mm)電纜線:CL331


  3. 特種設備行業推薦配置:

    直探頭:MB4S,斜探頭:MWB45-4,MWB60-4,MWB70-4,電纜線:MPKLL2


  4. 風電設備(法蘭、齒輪)行業推薦配置:

    直探頭:B4S,SEB4斜探頭:WB45-4,WB60-4電纜線:MPKL2,KBA533


  5. 材料檢測(鑄鍛件)行業推薦配置:

    直探頭:B2S,SEB2電纜線:MPKL2,KBA533

  6. 直探頭:DA501,電纜線:KBA533


  7. 管道行業推薦配置:

    直探頭:SEB4,斜探頭:MWB60-4,MWB70-4電纜線:KBA533,MPKLL






美國GE探頭線






接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面,可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好,用于較薄部件
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測,如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層,一般為凝膠,油類,漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測

水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好,效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好,檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架,溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果





應用
•結構規則簡單的大型工件檢測
•鍛件、坯料檢測
•板材、棒材、方型材
•容器、機器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測

功能特和優勢
•歐式型號具有可更換的軟保護膜:
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器,標準探頭連接器安裝在側面,頂部接口可選
•美式型號具有可更換的軟保護膜:
– 保護膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護膜可無限期延長探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進行檢測。
– BNC 連接器,側面或頂部安裝


主要特性
•單晶探頭用于超聲脈沖的發射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描(非接觸測試)
•不漏水的版本設計,或者帶有固定的連接電纜,或者帶有水密封的連接插座(除Microdot外)
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭,從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。




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