英國KP開爾文探針WF
- 公司名稱 昱臣半導(dǎo)體技術(shù)(香港)有限公司
- 品牌 美國Koehler/克勒
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/4/13 19:50:06
- 訪問次數(shù) 100
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,綜合 |
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開爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無損震蕩電容裝置,用于測量導(dǎo)體材料的功函數(shù)(Work Function)或半導(dǎo)體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。
材料表面的功函數(shù)通常由最上層的1-3層原子或分子決定,所以開爾文探針是的表面分析技術(shù)。
我們的開爾文探針系統(tǒng)包括:
□ 單點(diǎn)開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境);
□ 掃描開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境);
□ 超高真空(UHV)開爾文探針;
□ 濕度控制的腐蝕開爾文探針;
掃描開爾文探針系統(tǒng) (ASKP)
ASKP系統(tǒng)是一款可以被大多數(shù)客戶所接收掃描開爾文探針系統(tǒng),它是在SKP基礎(chǔ)之上包括了彩色相機(jī)/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數(shù)字示波鏡等配置,其規(guī)格如下:
□ 2毫米,50微米探針;
□ 功函數(shù)分辨率 1-3 meV(2毫米針尖),5-10 meV(50微米針尖);
□ 針尖到樣品表面高度可以達(dá)到400納米以內(nèi);
□ 表面勢和樣品形貌3維地圖;
□ 探針掃描或樣品掃描選配;
□ 彩色相機(jī)、調(diào)焦鏡頭、TFT顯示器和專業(yè)的光學(xué)固定裝置;
□ 參考樣品(帶相應(yīng)的掃描開爾文探針系統(tǒng)的形貌);
□ 備用的針尖放大器;
□ 24個月超長質(zhì)保期;