德國FISCHER熒光測厚及材料分析儀XRAY XAN 250 和 XAN 252

簡介

FISCHERSCOPE XRAY XAN 250 和 XAN 252 兩款儀器都是結構緊湊且應用廣泛的能量色散型X射線熒光測厚及鍍層測厚儀，通常用于無損測量鍍層厚度及分析材料成分。

XAN 250 和 XAN 252 特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量。

典型的應用領域

·在電子和半導體工業中，測量功能性鍍層，鍍層厚度最薄可低至數納米

·出于保護消費者為目的的痕量分析，如玩具中的鉛含量等

·在珠寶、手表業及金屬冶煉業中，以最高的精度分析合金成分

·高科院校的學術研究以及工業領域的技術研發

為了使每次測量都能在良好的條件下進行，儀器配備了可電動切換的多種準直器及基本濾片。先進的硅漂移接收器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度。

正如所有的 FISCHERSCOPE XRAY 儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。對于高精度要求的測量任務，則可隨時進行必要的校準。

依靠 FISCHER的基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下，準確分析固、液態樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

德國FISCHER熒光測厚及材料分析儀XRAY XAN 250 和 XAN 252

XAN 250 和 XAN 252 兩款儀器都是用戶界面友好的臺式測量儀器。它們的區別在于工作臺及測量箱的尺寸。

·XAN 250:固定工作臺

·XAN 252: 手動 XY 工作臺，用于細小樣品的精確定位，并裝配了大體積測量室。

為了樣品定位簡單快捷，X射線發生器和半導體接收器都集成在儀器下部艙室中，因而樣品的底部是實際被測量面，樣品則由一層透明的薄膜托放在測量室中。

內置可變焦視頻系統和定位十字線，可以方便地放置樣品，并進行精確的測量點調整。

通過功能強大、界面友好的 WinFTM·軟件，可以在計算機上便捷地完成整個測量過程，以及測量結果的數據分析和所有相關信息的顯示等。

FISCHERSCOPE XRAY XAN 250 和 XAN 252 滿足 DIN ISO 3497 標準和 ASTM B 568 標準，型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規的規定。