750175 人工晶體波前測量儀
- 公司名稱 聯合光科技（北京）有限公司
- 品牌 聯合光科
- 型號 750175
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/4/2 10:11:23
- 訪問次數 62
聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息，謝謝!
標準光學鏡片，高功率激光窗口鏡片，定制光學元件，偏振元件，英國ULO CO2紅外光學材料，鏡片，光學器件，光機械部件，壓電電控平臺，光學防震桌，光學調整架，手動位移臺，光機組件，光橋系統，全系列高品質工業成像鏡頭，定焦，遠心，線掃，變焦變倍，特殊定制鏡頭，照明光源，德國MarOpto輪廓儀，干涉儀，傾斜波干涉儀，斐索干涉儀，動態干涉儀，干涉測量軟件，斷面檢測，表面檢測，德國Dioptic ARGOS 表面疵病檢測儀，光纖端面缺陷檢測，日本壺坂Tsubosaka 鏡頭，相機鬼影，雜散光測試系統，可調色溫，亮度光源，鏡頭焦點偏差，光圈，閃光燈，快門測量，手機防抖測試系統，太陽燈，美國 Bristol 非接觸式測厚儀，美國Optometrics 衍射光柵，分光器件，線柵偏振片，Minichrom™ 單色儀等，德國Artifex-光功率計，跨阻抗放大器，門控積分放大器，LIV激光二極管和LED特性測試系統，積分球，激光二極管驅動器，波蘭inframet 可見光電視相機測試系統（TVT），紅外熱像儀測試系統（DT、LAFT、SAFT），夜視儀測試系統（NVT、NVS、NVB），激光測距機測試系統（LT、LTF、LTE），二代像管像增強器測試系統（ITS-I、ITS-P、ITS-R），條紋管測試系統（SPT、STT），多傳感器測試系統（JT、MS），被動式THz成像儀測試系統（THP），短波成像儀測試系統（ST），紫外成像儀測試系統（UT）以及紅外熱像儀計算機模擬器（Simterm）等，美國Headwall高光譜成像，拉曼光譜儀、衍射光學元件，SPF防曬指數測試儀，大氣測量輻射計，光度計，Mini-Chrom單色儀，激光二極管測試分析系統，積分球，激光功率探測器，光伏測試太陽模擬器，固態光電倍增管等等
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
全歐光學WaveMaster波前測量儀用于球面透鏡，非球面透鏡和光學系統的波前測量，集成了準直系統，擴束或縮束系統，高精度樣品臺，多種光源和WaveSensor波前傳感器。此傳感器采用夏克-哈特曼傳感器原理，用于平面、球面、非球面面型的檢測，光學系統像差檢測，輸出激光光束質量檢測，光束動態變化檢測，自適應系統波前的探測，并有針對大口徑光學和人工晶體波前檢測的解決方案。WaveMaster波前測量儀主要用來測量大型雙遠心鏡頭的全場波前，還可給出被測樣品的面型（PV和RMS），澤尼克系數（Zernike），點擴散函數（PSF），調制傳遞函數，斯特列爾比，楔角。同時，該產品也可用于人工晶體在空氣中或原位中的檢測，晶體低階和高階的相差，晶體的調制傳遞函數（MTF），晶體的點擴散函數（PSF），晶體屈光度和像差。軟件具有多種模塊功能，簡單易用，用戶可根據需要進行選擇。
WaveMaster® IOL 2是一款基于波前測量，可用于單焦、環曲面、球面、非球面人工晶體的檢測。它是一款可以用于研發，也可用于的生產，主要測量屈光度，像差以及基于波前分析計算的快速MTF測量。該設備可支持人工晶體在空氣中及模擬眼環境中測量，也可實現對環曲面人工晶體的MTF測量。
應用范圍
人工晶體在空氣中和模擬眼中的波前檢測
屈光度和散光度的檢測
低階和高階像差（澤尼克分析）的檢測
像質（MTF）檢測
環形人工晶體的軸偏差及標識自動識別
采購中心
化工儀器網